[发明专利]用于电子仪器的尘埃测试设备和方法无效
| 申请号： | 201110128116.X | 申请日： | 2011-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN102288845A | 公开（公告）日： | 2011-12-21 |
| 发明（设计）人： | 武田晃洋;曾根原隆;曾根原浩司;小口敏男;古田吉昌;浦岛基;海口康洋;笠井孝史 | 申请（专利权）人： | 索尼公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G06F11/22 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 秦晨 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 电子仪器 尘埃 测试 设备 方法 | ||
1.一种用于电子仪器的尘埃测试设备，包括：
壳体，在该壳体中封入有尘埃；
安装台，用于将电子仪器设置在壳体中；
第一送风器，用于在第一周期内将尘埃散射在整个壳体中；以及
第二送风器，用于在比第一周期长的第二周期内吹掉附着于电子仪器的通风孔的尘埃。
2.根据权利要求1所述的尘埃测试设备，其中，第二送风器在第二周期内在改变供应空气的方向的同时向着通风孔供应空气。
3.根据权利要求2所述的尘埃测试设备，其中，第二送风器在以与通风孔相对的方向为中心的预定角度范围内改变供应空气的方向。
4.根据权利要求1所述的尘埃测试设备，其中，第一送风器在第一周期内在改变供应空气的方向的同时向着壳体的下部供应空气。
5.根据权利要求4所述的尘埃测试设备，其中，第一送风器在以与壳体的下部相对的方向为中心的预定角度范围内改变供应空气的方向。
6.根据权利要求1所述的尘埃测试设备，其中，壳体在其下部处形成为锥形。
7.根据权利要求1所述的尘埃测试设备，还包括第三送风器，该第三送风器设置在壳体的下部上，并且向着壳体的上部周期性地供应空气。
8.根据权利要求1所述的尘埃测试设备，其中，第二送风器包括可绕其轴旋转的连通管和附着于该连通管的风嘴。
9.根据权利要求1所述的尘埃测试设备，其中，第一送风器包括可绕其轴旋转的连通管和附着于该连通管的风嘴。
10.一种用于电子仪器的尘埃测试方法，包括下述步骤：
在壳体中封入尘埃并设置电子仪器；
在第一周期内，在整个壳体中散射尘埃；以及
在比第一周期长的第二周期内，吹掉附着于电子仪器的通风孔的尘埃。
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