[发明专利]一种利用射频标尺法测量高反射率的方法无效
| 申请号： | 201110131297.1 | 申请日： | 2011-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN102788680A | 公开（公告）日： | 2012-11-21 |
| 发明（设计）人： | 陈玉华 | 申请（专利权）人： | 上海市宝山区青少年科学技术指导站 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 | 代理人： | 何新平 |
| 地址： | 200940 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 利用 射频 标尺 测量 反射率 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种利用射频标尺法测量高反射率的方法，其特征在于其实施步骤如下：
1)将待测反射率的反射镜制作成光电谐振腔；
2)搭建光路；
3)对入射激光进行光电相位调制，产生正负一级边带；
4)通过锯齿波扫描光学谐振腔，得到光谱；
5)将载波和一级边带之间的频率间距作为射频标尺，按比例测出载波的半峰全线宽；
6)利用腔精细度与腔透射光谱的谱线宽度及反射率的关系公式，计算出反射镜的反射率。
2.根据权利要求1所述的一种利用射频标尺法测量高反射率的方法的光路，其特征在于：所述的光路是由信号发生器、声光调制器、电光相位调制器、锯齿波扫描谐振腔、光电探测器、示波器组成。
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