[发明专利]一种米类加工精度测定方法

权利要求书

1.一种米类加工精度测定的方法，其特征在于：所述测定方法是利用计算机图像处理技术获得米类图像糠皮区域和籽粒区域信息，分别进行糠皮区域和籽粒区域的图像识别分割与提取，根据糠皮区域占籽粒区域的百分比值实现米类加工精度的测定。

2.根据权利要求1所述的米类加工精度测定方法，其特征在于：所述测定方法是根据米类籽粒的图像信息对米类加工精度进行测定，它包括进样系统(a)、图像采集系统(b)、图像分析处理系统(c)；其中，进样系统(a)连接到图像采集系统(b)，图像采集系统(b)连接到图像分析处理系统(c)。

3.根据权利要求1或2所述的米类加工精度测定方法，其特征在于：所述进样系统(a)为托盘、输送带(1)中任一种装置。

4.根据权利要求1或2所述的米类加工精度测定方法，其特征在于：所述图像采集系统(b)包括箱体(2)、光源(3)和图像获取装置(4)。

5.根据权利要求2或4所述的米类加工精度测定方法，其特征在于：所述图像采集系统(b)的箱体(2)为内壁漫反射的暗箱箱体。

6.根据权利要求2或4所述的米类加工精度测定方法，其特征在于：所述图像采集系统(b)的光源(3)为发光二极管或其他光源。

7.根据权利要求2或4所述的米类加工精度测定方法，其特征在于：所述图像采集系统(b)的图像获取装置(4)采用电荷藕合器件CCD、CMOS图像传感器、数码照相机、数码摄像机、光敏传感器CIS、自扫描光电二极管列阵SPD或电荷注入器件CID中任一种。

8.根据权利要求1或2所述的米类加工精度测定方法，其特征在于：所述图像分析处理系统(c)包括计算机(5)或单片机以及相应的分析处理程序。

9.根据权利要求1或8所述的米类加工精度测定方法，其特征在于：所述分析处理程序包括：

第一步骤：读取原始米类图像；

第二步骤：进行米类图像预处理；

第三步骤：进行米类图像分析；

第四步骤：提取米类糠皮区域特征值；

第五步骤：提取米类籽粒区域特征值；

第六步骤：利用米类糠皮区域特征值进行图像识别分割，获取糠皮区域；

第七步骤：利用米类籽粒区域特征值进行图像识别分割，获取籽粒区域；

第八步骤：提取米类糠皮区域图像像素值；

第九步骤：提取米类籽粒区域图像像素值；

第十步骤：计算米类糠皮区域占籽粒区域的百分比值；

第十一步骤：输出米类加工精度。