[发明专利]光学片的制造方法及光学片的制造装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种光学片的制造方法及光学片的制造装置。

背景技术

具有通过使光透射或反射而产生特定的透射光或反射光的光学特征的光学片，被用来改善显示装置的可见度、防污性、防眩性等。光学片对光的透射特性和反射特性（以下，称为“光学特性”）是由光学片的材质和光学片表面的状态等所决定的。由于光学片的材质常使用树脂材料，所以为了对光学片赋予特定的光学特性，多数是实施加热处理。

用来赋予光学特性的加热处理中，是利用加热器等在特定的加热条件下对事先形成为片状的树脂材料从外部进行加热。通过此加热使树脂材料的物性发生变化，或者使片体表面的状态发生变化，从而可以对光学片赋予特定的光学特性。

当能够直接测定光学片的光学特性时，以加热处理后的光学片作为对象而测定光学特性，判断所述光学片是否被赋予了所希望的光学特性。当所赋予的光学特性不符合所希望的特性时，将变更加热条件等。但是，光学特性是在光学片配置于显示装置中的状态下所发挥的特性，要在光学片单独存在的状态下直接判断是否获得了所希望的光学特性则较为困难。

因此，目前是将在光学片单独存在的状态下可测定的特性值作为代替特性值，并根据其测定结果间接地判断是否被赋予了所希望的光学特性。作为代替光学特性而经常使用的特性有雾度（haze）。雾度在JIS K7136：2000中定义为漫透射率相对于总光线透射率的比，可以根据此JIS标准中规定的测定方法来测定雾值（haze value）。JIS K7136：2000所规定的测定方法中，必须在将试片设置于固定架（holder）上的状态下照射光，并使用累计球对透射光进行测定。

像这样，因为是将试片设置在固定架上，所以难以依据JIS标准连续地测定雾值。光学片是连续地加热长条片状材料而被制造，因此如果要依据JIS标准来测定雾值并根据其测定结果判断光学特性，则不能在制造的同时连续地进行判断。

专利文献1所述的光学片的制造方法中，简便地进行了以往无法利用雾值进行评价的对比度评价。另外，雾值测定使用的是市场上销售的雾度仪（haze meter）。

[现有技术文献]

专利文献1：日本专利公报“特开2009-265341号公报（于2009年11月12日公开）”。

发明内容

要使光学片整体的光学特性均匀，需要对片体表面均匀地加热。如果片体表面的温度因加热而产生分布不均，则光学片的光学特性产生特性分布而不能达到均匀。因此，要高效率地制造具有所希望的光学特性的光学片，优选的是连续地测定光学片整体的光学特性，并使其测定结果连续地反映在加热处理的加热条件中。

专利文献1所记载的雾值测定中使用的是市场上销售的雾度仪。目前市场上销售的雾度仪与JIS标准的测定不同，可以连续地进行测定，但是这种雾度仪可测定的范围较小，例如只能在几十毫米宽的范围中进行测定。这取决于所述雾度仪的测定原理：使光源灯的光汇聚后从片体的背面侧照射，并利用片体表面侧的光接收传感器对透射过汇聚点的光进行测定。只要是使用这样的测定原理，就无法扩大可以测定的范围。

光学片有各种各样的尺寸，但大多数的宽度尺寸都达到了几米，所以如果要使用如上所述的测定原理的雾度仪来连续地测定光学片整体的光学特性，则需要在宽度方向上并排设置几十台至几百台的雾度仪。要使这些多个雾度仪取得同步而同时进行测定较为困难，并且考虑各装置的个体差而修正测定值也较为困难。

本发明的主要目的在于提供一种能够在整个宽度方向连续地测定光学片的光学特性，可以高效率地制造具有所希望的光学特性的光学片的制造方法及光学片的制造装置。

为了解决所述的问题，本发明的光学片的制造方法包括：加热工序，对连续送出的长条片状材料连续地实施加热处理；照射工序，对经过加热处理的片状材料的宽度方向的整个区域进行光照射；光接收工序，接收从所述被照射到光的片状材料反射或透射来的反射光或透射光；判断工序，根据所接收的反射光或透射光的光量，判断是否需要变更加热处理的加热条件；输出工序，当所述判断工序中判断出需要变更加热条件时，输出需要变更加热条件的指示。

所述制造方法中更优选的是：所述判断工序中，将所接收的反射光或透射光的光量换算成代替雾值的雾度代替评价值，并比较事先规定的阈值与雾度代替评价值而判断是否需要变更加热处理的加热条件。