[发明专利]颗粒物性测量装置

权利要求书

1.一种颗粒物性测量装置，其特征在于，至少包括：形状物性值测量机构，求出分散在液体试样中的颗粒的形状物性值；粒径测量机构，测量所述颗粒的粒径；以及zeta电位测量机构，测量所述颗粒的zeta电位，

该颗粒物性测量装置还包括图像数据制作部，

该图像数据制作部根据所述形状物性值测量机构和所述粒径测量机构的测量结果数据，制作用于将颗粒表面形状和颗粒大小显示为图像的颗粒图像数据，并且

该图像数据制作部根据所述zeta电位测量机构的测量结果数据，制作用于将所述颗粒的zeta电位显示为从所述颗粒的颗粒表面起的层的大小和/或从颗粒表面起的层的颜色的zeta电位图像数据。

2.根据权利要求1所述的颗粒物性测量装置，其特征在于还包括表存储部，该表存储部存储将所述zeta电位测量机构的测量结果数据与从所述颗粒的表面起的层的大小和/或从所述颗粒的表面起的层的颜色联系起来的表。