[发明专利]切换面板及其测试电路

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种可使显示装置在二维与三维显示模式之间进行切换的切换面板以及相关的测试电路。

背景技术

随着科技的发展进步，三维显示技术已经越来越成熟，目前已经开发出具有三维显示功能或者具有二维与三维显示切换功能的显示装置(例如显示器或者电视等等)。

请参阅图1，其绘示为现有的一种具有二维与三维显示模式切换功能的显示装置的示意图。如图1所示，显示装置100包括普通常用的平面显示面板110(例如液晶显示面板)、切换面板(switching cell panel)120以及透镜阵列(lens array)基板130。其中，切换面板120设置在平面显示面板110与透镜阵列基板130之间。且切换面板120包括上基板121、下基板122以及夹设在上基板121与下基板122之间的液晶层123。

图2绘示为图1所示的切换面板的切面示意图，而图3绘示为图1所示的切换面板的平面示意图。请一并参阅图2-3，切换面板120的上基板121在显示区域内设置有多条相互平行的第一条状电极(electrode stripe)1210，而下基板122在显示区域内也设置有多条相互平行的第二条状电极1220，且这些第一条状电极1210与这些第二条状电极1220相互垂直。切换面板120进一步包括第一驱动器126以及第二驱动器127，其中第一驱动器126以及第二驱动器127分别用于驱动上基板121上的第一条状电极1210以及下基板122上的第二条状电极1220，以使上基板121与下基板122之间产生电压差，来驱动其内的液晶进行偏转以开启或者关闭对应的像素，从而实现二维与三维显示模式切换的功能。其中，第一条状电极1210与第二条状电极1220分别采用ITO等透明材质而制成。

由于切换面板120的上基板121以及下基板122上均需要设置大量的条状电极1210以及1220，因此制造商在制造过程中需要测试这些条状电极1210以及1220是否出现断路或者短路现象。

图4绘示现有的一种用于切换面板的测试电路示意图。如图4所示，基板200上的条状电极210通过金属扇状结构220而电连接至短路垫(shorting bar)230，然后再电连接至基板200外的测试垫(test pad)250以及260。其中，短路垫230包括第一测试走线231以及第二测试走线232，且第一测试走线231通过金属扇状结构220而分别电连接基板200上的奇数行的条状电极210，从而将奇数行的条状电极210通过金属扇状结构220以及第一测试走线231而电连接测试垫250；而第二测试走线232通过金属扇状结构220而分别电连接基板200上的偶数行的条状电极210，从而将偶数行的条状电极210通过金属扇状结构220以及第二测试走线232而电连接测试垫260。

因此，藉由图4所示的电路连接关系可以测试切换面板的基板200上所设置的条状电极210是否发生了断路或者短路现象。且，在完成断路或者短路测试后，可利用雷射切割的方式在雷射切割区域270切断第一测试走线231以及第二测试走线232与金属扇状结构220之间的电连接线，以使第一测试走线231以及第二测试走线232与条状电极210电隔离。

请继续参阅图2，切换面板120的上基板121的面积决定着整个切换面板120的显示区域的大小，为了获得较大的显示区域，则上基板121上除了第一条状电极1210外，会尽量不设置其它的元件，从而使第一条状电极1210可以获得最大程度的长度。因此，对于切换面板120的上基板121来说，其通常不会有足够的空间来设置短路垫(shorting bar)230。此外，上基板121上一般只设置有条状电极1210以及金属扇状结构220，其一般不会设置任何的绝缘介质层。而对于图4所示的测试电路而言，第一测试走线231与金属扇状结构220之间的电连接线会横跨第二测试走线232。由于上基板121上通常没有设置任何的绝缘介质层，因此其不允许金属线路之间相互跨越。也就是说，图4所示的短路垫230也并不适合设置在切换面板120的上基板121内，其一般是设置在下基板122内用于测试下基板122上的条状电极1220是否发生断路或者短路现象。因此，现有的测试电路并不适合用于测试上基板121上的条状电极1210是否发生断路或者短路现象。如果将现有的测试电路应用在上基板121内，则需要额外的设置一层绝缘介质层，以使两个测试走线可以设置在不同的层内从而实现金属线之间的横跨。

发明内容