[发明专利]一种毫米波功率放大器的参数自动测试方法与测试系统有效
申请号: | 201110139533.4 | 申请日: | 2011-05-26 |
公开(公告)号: | CN102323531A | 公开(公告)日: | 2012-01-18 |
发明(设计)人: | 吴亮;孙晓玮;秦然;李江夏;钱蓉;佟瑞;楼丹;沈玮 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 叶琦玲 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 毫米波 功率放大器 参数 自动 测试 方法 系统 | ||
1.一种毫米波功率放大器的参数自动测试系统,其特征在于:包括待测件毫米波激励信号发生单元、待测件毫米波激励信号功率控制单元、待测件毫米波激励信号检测单元、待测件、待测件输出信号检测单元、待测件直流信号供给单元、以及测试系统控制单元;所述待测件毫米波激励信号发生单元用以生成毫米波激励信号;所述待测件毫米波激励信号功率控制单元与待测件毫米波激励信号发生单元相连,用以控制毫米波激励信号的功率;所述待测件毫米波激励信号检测单元与待测件毫米波激励信号功率控制单元相连,用以检测毫米波激励信号的功率;所述待测件的输入端与待测件毫米波激励信号检测单元相连,输出端与待测件输出信号检测单元相连;所述待测件输出信号检测单元用以检测待测件的输出信号;所述待测件直流信号供给单元与待测件相连,用以为待测件供电;所述测试系统控制单元分别与待测件毫米波激励信号发生单元、待测件毫米波激励信号检测单元、待测件直流信号供给单元、和待测件输出信号检测单元控制相连。
2.根据权利要求1所述的毫米波功率放大器的参数自动测试系统,其特征在于:所述待测件毫米波激励信号发生单元包括微波信号源、有源倍频链、隔离器;所述微波信号源产生用于驱动有源倍频链的信号频率与信号功率;有源倍频链与微波信号源相连,用于将微波信号源的信号频率通过×N有源倍频链技术得到所需毫米波段的信号频率与信号功率;隔离器与有源倍频链相连,用于隔离有源倍频链的输出阻抗的不稳定变化。
3.根据权利要求2所述的毫米波功率放大器的参数自动测试系统,其特征在于:所述待测件毫米波激励信号功率控制单元包括与所述隔离器相连的精密可变衰减器,所述精密可变衰减器用于调节衰减量,保持有源倍频链输出的激励信号在小信号激励状态。
4.根据权利要求3所述的毫米波功率放大器的参数自动测试系统,其特征在于:所述待测件毫米波激励信号检测单元包括定向耦合器(31)、功率传感器(32)与双通道功率计;所述定向耦合器(31)与所述精密可变衰减器相连,用于将精密可变衰减器输出的激励信号分流成2路信号,其中一路输出给功率传感器(32),另一路输出给待测件输出信号检测单元;所述功率传感器(32)与定向耦合器(31)相连,双通道功率计与功率传感器(32)相连,功率传感器(32)和双通道功率计用于对完成对功率传感器(32)的输入信号进行功率检测。
5.根据权利要求4所述的毫米波功率放大器的参数自动测试系统,其特征在于:所述待测件输出信号检测单元包括可变衰减器、定向耦合器(42)、谐波混频器、功率传感器(44)与微波频谱分析仪;所述可变衰减器与待测件相连,用于完成对待测件输出信号的适当衰减;定向耦合器(42)分别与功率传感器(44)、可变衰减器和谐波混频器相连,用于将可变衰减器输出的信号分流成2路信号,一路传输给功率传感器(44),另一路传输给谐波混频器;功率传感器(44)与所述双通道功率计相连,用于完成对待测件输出信号的功率检测;谐波混频器与微波频谱分析仪相连,用于完成对待测件输出信号的频谱搬移,即从毫米波段搬移至微波段。
6.根据权利要求5所述的毫米波功率放大器的参数自动测试系统,其特征在于:所述待测件直流信号供给单元包括程控直流稳压电源,程控直流稳压电源与待测件相连,用于完成对待测件直流偏置的稳定供给。
7.根据权利要求6所述的毫米波功率放大器的参数自动测试系统,其特征在于:所述测试系统控制单元包括GPIB总线、GPIB-USB控制卡、主控计算机;所述GPIB总线用于连接和控制微波信号源、双通道功率计、微波频谱分析仪和程控直流稳压电源;所述GPIB-USB控制卡通过GPIB总线与微波信号源和双通道功率计相连,用于将任何带USB端口的计算机作为全功能、即插即用的GPIB总线控制器使用;主控计算机与GPIB-USB控制卡相连。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海微系统与信息技术研究所,未经中国科学院上海微系统与信息技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110139533.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。