[发明专利]脉冲激射型太赫兹量子级联激光器的功率测量装置及方法有效

专利信息
申请号: 201110142266.6 申请日: 2011-05-30
公开(公告)号: CN102323040A 公开(公告)日: 2012-01-18
发明(设计)人: 谭智勇;曹俊诚;韩英军;陈镇 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01J1/42
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 李仪萍
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 脉冲 激射型太 赫兹 量子 级联 激光器 功率 测量 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种脉冲激射型太赫兹量子级联激光器的功率测量装置,其特征在于:包括光源部分(A)、光路部分(B)和探测部分(C);

所述光源部分(A)包括第一冷头(2)、安装于所述第一冷头(2)内的第一热沉(3)、安装于所述第一热沉(3)上的太赫兹量子级联激光器、与所述太赫兹量子级联激光器连接的脉冲电源(1)、安装于所述第一冷头上的第一聚乙烯窗片(4);其中,所述太赫兹量子级联激光器发射出的太赫兹光通过第一聚乙烯窗片(4)射出;

所述光路部分(B)包括第一离轴抛物镜(5)和第二离轴抛物镜(6);所述第一离轴抛物镜(5)收集经所述第一聚乙烯窗片(4)射出的太赫兹光,并使该太赫兹光反射至第二离轴抛物镜(6);所述第二离轴抛物镜(6)接收经所述第一离轴抛物镜(5)反射过来的太赫兹光,并使该太赫兹光反射至所述探测部分(C);

所述探测部分(C)包括第二冷头(7)、安装于所述第二冷头(7)上的第二聚乙烯窗片(8)、安装于所述第二冷头(7)内的第二热沉(9)、安装于所述第二热沉(9)上的太赫兹量子阱探测器、与所述太赫兹量子阱探测器连接的信号处理电路(10)以及与所述信号处理电路(10)连接的示波器(11);其中,所述第二聚乙烯窗片(8)使所述第二离轴抛物镜(6)反射过来的太赫兹光进入所述第二冷头(7)内,并到达所述太赫兹量子阱探测器的敏感面上;所述太赫兹量子阱探测器用以接收所述第二离轴抛物镜(6)反射过来的太赫兹光,并产生相应的电流信号;所述信号处理电路(10)将所述电流信号提取为电压信号,并进行放大;所述示波器(11)用以对所述信号处理电路(10)放大后的电压信号进行读取和显示,得到所述电压信号的幅度。

2.根据权利要求1所述的脉冲激射型太赫兹量子级联激光器的功率测量装置,其特征在于:所述太赫兹量子级联激光器的激射频率范围为4.02-4.13THz,所述太赫兹量子阱探测器的峰值探测频率为3.2THz,主要探测频率范围为3.0-5.3THz,其中主要探测频率范围是指响应幅度≥峰值响应幅度40%的频率范围。

3.根据权利要求2所述的脉冲激射型太赫兹量子级联激光器的功率测量装置,其特征在于:所述太赫兹量子阱探测器为光电导型低维半导体探测器,其有源区为通过在半绝缘GaAs衬底上交替生长GaAs层和AlGaAs层的方式形成。

4.根据权利要求3所述的脉冲激射型太赫兹量子级联激光器的功率测量装置,其特征在于:所述太赫兹量子阱探测器的有源区包括23个周期结构,每个周期结构内包含交替生长的GaAs层和Al0.015Ga0.985As层各一层。

5.根据权利要求2所述的脉冲激射型太赫兹量子级联激光器的功率测量装置,其特征在于:所述太赫兹量子级联激光器的有源区是通过在半绝缘GaAs衬底上交替生长GaAs层和AlGaAs层的方式形成的。

6.根据权利要求5所述的脉冲激射型太赫兹量子级联激光器的功率测量装置,其特征在于:所述太赫兹量子级联激光器的有源区为四阱共振声子结构,包括178个周期结构,每个周期结构内包含交替生长的GaAs层和Al0.15Ga0.85As层各四层。

7.根据权利要求1所述的脉冲激射型太赫兹量子级联激光器的功率测量装置,其特征在于:所述第一聚乙烯窗片(4)和第二聚乙烯窗片(8)均采用高强度聚乙烯材料。

8.根据权利要求7所述的脉冲激射型太赫兹量子级联激光器的功率测量装置,其特征在于:所述第一聚乙烯窗片(4)和第二聚乙烯窗片(8)均通过将灌制的高强度聚乙烯圆柱形材料进行切割、研磨和抛光而成。

9.根据权利要求1所述的脉冲激射型太赫兹量子级联激光器的功率测量装置,其特征在于:所述第一离轴抛物镜(5)和第二离轴抛物镜(6)的反射面均为镀金离轴抛物面。

10.根据权利要求1所述的脉冲激射型太赫兹量子级联激光器的功率测量装置,其特征在于:所述脉冲电源(1)为可编程脉冲式电源,包括正偏压和反偏压两种供电模式,所述脉冲电源(1)的可输出电流范围为0-5A,脉宽调节范围为50ns-5μs,输出脉冲重复频率范围为1-10kHz,脉冲的最大占空比为1%。

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