[发明专利]岩心岩电实验参数m、n的校正方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种岩心岩电实验参数m、n的校正方法及系统。

背景技术

岩电实验首先要求用地层水完全饱和岩心，然而对于低孔隙度低渗透率岩心，由于受实验方法、实验设备以及实验周期的限制，岩心往往不能达到完全饱和，它会对地层因素F和电阻增大率I的实验测量结果有较明显的影响，进而影响到饱和度指数n值和胶结指数m值的求取，尤其是对于低孔隙度低渗透率地层的岩心，在不能达到完全饱和的情况下，按照《岩石电阻率参数实验室测量及计算方法(SY/T 5385-1991)》标准流程进行实验及计算，会导致饱和度指数n值降低、胶结指数m值增大。

岩心未达到完全饱和状态下求得的岩电实验参数n′值和m′值的绝对误差虽然较小，但相对误差却往往较大，应对未完全饱和状态下求得的岩电实验参数n′和m′加以校正。

发明内容

本发明的目的之一是为了解决低孔隙度低渗透率岩心未完全饱和状态下按照《岩石电阻率参数实验室测量及计算方法(SY/T 5385-1991)》标准流程进行实验及计算，致使饱和度指数n值降低、胶结指数m值增大的问题，提供一种岩心岩电实验参数m、n的校正方法及系统。

根据本发明的一个方面，提供一种岩心岩电实验参数m、n的校正方法包括：

在岩心在未达到完全饱和状态下，根据校正公式对饱和度指数值n进行校正；其中，所述n′为岩心在未达到完全饱和状态下，按照《岩石电阻率参数实验室测量及计算方法(SY/T 5385-1991)》标准流程进行实验及计算求取的饱和度指数；所述n为n′经公式(1)校正后计算求取的饱和度指数；所述b′为岩心在未达到完全饱和状态下，按照《岩石电阻率参数实验室测量及计算方法(SY/T 5385-1991)》标准流程进行实验及计算求取的岩心系数，所述b′为大于1的小数；所述S_w为岩心未达到完全饱和状态下实验测量所得含水饱和度中的最大含水饱和度，S_w记为小数；

在岩心未完全饱和状态下，根据校正公式对胶结指数值m进行校正；所述m′为岩心在未达到完全饱和状态下，按照《岩石电阻率参数实验室测量及计算方法(SY/T 5385-1991)》标准流程进行实验及计算求取的胶结指数；所述m为m′经公式(2)校正后计算求取的胶结指数；所述S_w为岩心未达到完全饱和状态下实验测量所得含水饱和度中的最大含水饱和度，S_w记为小数；n为n′经公式(1)校正后计算求取的饱和度指数；所述φ为岩心孔隙度，φ记为小数。

根据本发明的另一个方面，提供一种岩心岩电实验参数m、n的校正系统包括：

饱和度指数值校正模块，在岩心在未达到完全饱和状态下，根据校正公式对饱和度指数值n进行校正；其中，所述n′为岩心在未达到完全饱和状态下，按照《岩石电阻率参数实验室测量及计算方法(SY/T5385-1991)》标准流程进行实验及计算求取的饱和度指数；所述n为n′经公式(1)校正后计算求取的饱和度指数；所述b′为岩心在未达到完全饱和状态下，按照《岩石电阻率参数实验室测量及计算方法(SY/T 5385-1991)》标准流程进行实验及计算求取的岩心系数，所述b′为大于1的小数；所述S_w为岩心未达到完全饱和状态下实验测量所得含水饱和度中的最大含水饱和度，S_w记为小数；

胶结指数值校正模块，在岩心未完全饱和状态下，根据校正公式对胶结指数值m进行校正；所述m′为岩心在未达到完全饱和状态下，按照《岩石电阻率参数实验室测量及计算方法(SY/T5385-1991)》标准流程进行实验及计算求取的胶结指数；所述m为m′经公式(2)校正后计算求取的胶结指数；所述S_w为岩心未达到完全饱和状态下实验测量所得含水饱和度中的最大含水饱和度，S_w记为小数；n为n′经公式(1)校正后计算求取的饱和度指数；所述φ为岩心孔隙度，φ记为小数。

根据本发明提供的岩心岩电实验参数m、n的校正方法及系统，分别对未达到完全饱和状态下的岩心按照《岩石电阻率参数实验室测量及计算方法(SY/T 5385-1991)》标准流程进行实验求取的胶结指数m′值和饱和度指数n′值进行校正，校正后的胶结指数m值和饱和度指数n值更接近于岩心真实的胶结指数m值和饱和度指数n值，校正效果明显。

附图说明

图1是本发明实施例提供的岩心未达到完全饱和对胶结指数m的影响及校正示意图；