[发明专利]抗辐射故障保护型存储装置及其抗辐射故障保护方法有效
申请号: | 201110147557.4 | 申请日: | 2011-06-02 |
公开(公告)号: | CN102298973A | 公开(公告)日: | 2011-12-28 |
发明(设计)人: | 肖立伊;祝名;付方发;周彬;陈达燕 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G11C29/42 | 分类号: | G11C29/42 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 张宏威 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 辐射 故障 保护 存储 装置 及其 方法 | ||
1.抗辐射故障保护型存储装置,其特征在于它包括混合码编码组件(2)和混合码译码组件(3);所述混合码编码组件(2)由EG-LDPC码编码模块(2-1)和汉明码编码模块(2-2)组成;EG-LDPC码编码模块(2-1)的信息编码数据输入端和汉明码编码模块(2-2)的信息编码数据输入端同时与外部信息数据输出端相连;EG-LDPC码编码模块(2-1)的EG-LDPC码编码数据输出端与存储阵列模块(1)的EG-LDPC码编码数据输入端相连;汉明码编码模块(2-2)的汉明码编码数据输出端与存储阵列模块(1)的汉明码编码数据输入端相连;所述混合码译码组件(3)由EG-LDPC码译码模块(3-1)和汉明码译码模块(3-2)组成;EG-LDPC码译码模块(3-1)的EG-LDPC码译码数据输入端与存储阵列模块(1)的EG-LDPC码译码数据输出端相连;汉明码译码模块(3-2)的汉明码译码数据输入端与存储阵列模块(1)的汉明码译码数据输出端相连;所述存储装置还包括编码错误码探测组件(4)和译码错误码探测组件(5);所述编码错误码探测组件(4)由EG-LDPC码编码错误码探测模块(4-1)和汉明码编码错误码探测模块(4-2)组成;
所述EG-LDPC码编码错误码探测模块(4-1)的EG-LDPC码编码错误码探测数据输入端与EG-LDPC码编码模块(2-1)的EG-LDPC码编码数据输出端相连;所述汉明码编码错误码探测模块(4-2)的汉明码编码错误码探测数据输入端与汉明码编码模块(2-2)的汉明码编码数据输出端相连;
所述译码错误码探测组件(5)由EG-LDPC码译码错误码探测模块(5-1)和汉明码译码错误码探测模块(5-2)组成;
所述EG-LDPC码译码错误码探测模块(5-1)的EG-LDPC码译码错误码探测数据输入端与EG-LDPC码译码模块(3-1)的EG-LDPC码译码数据输出端相连;所述汉明码译码错误码探测模块(5-2)的汉明码译码错误码探测数据输入端与汉明码译码模块(3-2)的汉明码译码数据输出端相连;
所述EG-LDPC码译码错误码探测模块(5-1)的EG-LDPC码译码伴随数据输入端同时与EG-LDPC码译码模块(3-1)的EG-LDPC码译码伴随数据输出端、汉明码译码模块(3-2)的汉明码译码伴随数据输出端和汉明码译码错误码探测模块(5-2)的汉明码译码伴随数据输入端与相连。
2.采用权利要求1所述的抗辐射故障保护型存储装置的抗辐射故障保护方法,其特征在于它由以下几个步骤组成:
步骤1:根据需要加固存储器的数据宽度N,选择码字为(n1,k1)的EG-LDPC码和码字为(n2,k2)的汉明码;其中n1和k1分别为EG-LDPC码的码长和数据宽度,n2和k2分别为汉明码的码长和数据宽度;
步骤2:将步骤1选择的码长为n1的EG-LDPC码分割成M个部分,M的取值与汉明码的码长n2相等,所述M个部分中的每一部分的长度至少2位;
步骤3:把码长为n2的汉明码均匀地插入到EG-LDPC码分割的M个部分的间隔中,使汉明码的每一个字节在物理布局上都是分隔的;若汉明码和EG-LDPC码的码长和信息位满足等式1和2,即构成一个数据宽度为N,码长为n1+n2的混合码;
k1+k2=N 等式2
步骤4:通过故障保护约束算法来确保混合码的故障保护特性;设J为错误修正码的最小距离,e为错误图样的重量,对系统形式的校验矩阵
进行行初等变换,得到具有故障保护能力的校验矩阵HFS;
所述具有故障保护能力的校验矩阵HFS满足下列条件:
a、每一列中至少包含J个1;
b、故障保护校验矩阵Hfs中1的总个数Z保持在″(J+1)×矩阵列数≥Z≥J×矩阵列数″之间;
c、故障保护校验矩阵Hfs中每一行中1的个数都相等;
步骤6:利用EG-LDPC码校验矩阵和步骤5得到的汉明码校验矩阵Hfs,通过与接收和发送的数据位执行相应的向量矩阵乘法获得混合码的编码器、译码器和探测器;所述混合码的编码器、译码器和探测器连接构成抗辐射故障保护型存储装置。
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