[发明专利]一种检测铁调素的方法和试剂盒有效

专利信息
申请号: 201110149663.6 申请日: 2011-06-03
公开(公告)号: CN102809599A 公开(公告)日: 2012-12-05
发明(设计)人: 聂广军;T·胡;范佳;赵宇亮;M·弗拉里 申请(专利权)人: 国家纳米科学中心
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 11283 代理人: 陈小莲;王凤桐
地址: 100190 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 铁调素 方法 试剂盒
【权利要求书】:

1.一种检测铁调素的方法,其中,所述方法包括如下步骤:

(1)将样品液体与纳米芯片接触后,去除样品液体,得到接触样品后的纳米芯片;所述样品液体含有铁调素或不含有铁调素;

(2)用洗脱液洗脱接触样品液体后的纳米芯片,得到洗脱产物;所述洗脱液能够溶解铁调素;

(3)获取步骤(2)得到的洗脱产物的质谱检测结果;

(4)根据所述质谱检测结果,确定洗脱产物中是否含有铁调素,或者确定洗脱产物中铁调素的含量;

步骤(1)中,所述纳米芯片包括基片和附着在所述基片上的多孔氧化硅涂层,所述多孔氧化硅涂层的平均孔径为3.65-3.75nm,所述多孔氧化硅涂层的比表面积为1050-1200m2/g,所述多孔氧化硅涂层具有轴向平行的多个孔道,且所述多个孔道中的7个孔道形成一个孔道组,每个孔道组包括一个中心孔道和与该中心孔道相邻并围绕该中心孔道的6个周边孔道,该6个周边孔道的截面中心连线形成正六边形。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述多孔氧化硅涂层的表面的接触角小于15度。

3.根据权利要求1所述的方法,其中,步骤(1)中,所述接触的条件包括:接触的温度为10-37℃,接触的时间为20-60分钟。

4.根据权利要求1-3中任意一项所述的方法,其中,所述样品液体含有样品和样品稀释液;所述样品稀释液含有水、三氟乙酸和乙腈。

5.根据权利要求4所述的方法,其中,相对于1体积所述样品液体,所述样品稀释液的用量使得三氟乙酸的用量为0.00005-0.00015体积且乙腈的用量为0.03-0.07体积;

所述样品稀释液中,相对于1体积的水,三氟乙酸的含量为0.001-0.003体积,乙腈的含量为0.5-1.5体积。

6.根据权利要求1-3和5中任意一项所述的方法,其中,相对于每平方毫米所述多孔氧化硅涂层的外表面积,所述样品液体的用量为0.5-4μL。

7.根据权利要求1-3和5中任意一项所述的方法,其中,所述洗脱液含有三氟乙酸、乙腈和水;所述洗脱液中,相对于1体积水,三氟乙酸的含量为0.001-0.003体积,乙腈的含量为0.5-1.5体积;相对于每平方毫米所述多孔氧化硅涂层的外表面积,所述洗脱液的用量为0.3-2μL。

8.一种检测铁调素的试剂盒,其中,该试剂盒包括:

(i)样品稀释液,所述样品稀释液含有三氟乙酸和乙腈;

(ii)纳米芯片,所述纳米芯片包括基片和附着在所述基片上的多孔氧化硅涂层,所述多孔氧化硅涂层的平均孔径为3.65-3.75nm,所述多孔氧化硅涂层的比表面积为1050-1200m2/g,所述多孔氧化硅涂层具有轴向平行的多个孔道,且所述多个孔道中的7个孔道形成一个孔道组,每个孔道组包括一个中心孔道和与该中心孔道相邻并围绕该中心孔道的6个周边孔道,该6个周边孔道的截面中心连线形成正六边形。

9.根据权利要求8所述的试剂盒,其中,所述多孔氧化硅涂层的表面的接触角小于15度。

10.根据权利要求8或9所述的试剂盒,其中,所述样品稀释液中,相对于1体积的水,三氟乙酸的含量为0.001-0.003体积,乙腈的含量为0.5-1.5体积。

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