[发明专利]一种清除光刻掩模板表面微尘颗粒的方法无效

专利信息
申请号: 201110150741.4 申请日: 2011-06-07
公开(公告)号: CN102419511A 公开(公告)日: 2012-04-18
发明(设计)人: 王剑;戴韫青;毛智彪 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: G03F1/82 分类号: G03F1/82
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 王敏杰
地址: 201210 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 清除 光刻 模板 表面 微尘 颗粒 方法
【权利要求书】:

1.一种清除光刻掩模板表面微尘颗粒的方法,其特征在于,采用吸气方式清除光刻掩模板表面的微尘颗粒。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述吸气方式清除光刻掩模板表面的微尘颗粒是利用一吸气式空气枪系统实现的。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述的吸气式空气枪系统包括控制设备和吸气式空气枪;

所述控制设备通过一连接装置与所述吸气式空气枪连接,用于控制所述吸气式空气枪在所述光刻掩模板的表面的上方进行摆动扫描,同时进行吸气以清除光刻掩模板表面的微尘颗粒。

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述吸气式空气枪在所述光刻掩模板的上方对于所述光刻掩模板表面的所有区域进行扫描并吸气以清除光刻掩模板表面的微尘颗粒。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,扫描光刻掩模板表面的方式为吸气式空气枪从光刻掩模板表面的一端扫描到光刻掩模板表面的另一端,并且所述吸气式空气枪进行多次往返扫描。

6.如权利要求4所述的方法,其特征在于,扫描光刻掩模板表面的方式为所述吸气式空气枪在光刻掩模板表面的上方做直径递减的圆周运动,从光刻掩模板表面的外圈扫描到光刻掩模板表面的内圈,直至扫描到光刻掩模板表面的中心区域。

7.如权利要求4所述的方法, 其特征在于,扫描光刻掩模板表面的方式为所述吸气式空气枪在光刻掩模板表面的上方沿着光刻掩模板表面的一条对角线移动运动的同时以所述对角线为中心轴做左右摆动以使扫描区域覆盖光刻掩模板表面的所有区域。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华力微电子有限公司,未经上海华力微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110150741.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top