[发明专利]对金属熔体进行测量和采样的测量探针

权利要求书

1.一种在金属熔体中进行测量和采样的测量探针，所述测量探针具有布置在吹管上的测量头，所述测量头带有至少一个温度传感器和采样室，所述采样室至少部分被所述测量头包围并且包括延伸穿过所述测量头的吸入管道，所述吸入管道包括在所述测量头内延伸的内部部分并且至少在位于所述内部部分中的一个位置处具有长度L和最小直径D，其特征在于，

比值L/D²小于0.6mm^-1。

2.根据权利要求1所述的测量探针，其特征在于，

所述比值L/D²小于0.45mm^-1。

3.根据权利要求2所述的测量探针，其特征在于，

所述比值L/D²小于0.3mm^-1。

4.一种用于在金属熔体中进行测量和采样的测量探针，所述测量探针具有布置在吹管上的测量头，所述测量头带有至少一个温度传感器和采样室，所述采样室至少部分被所述测量头包围并且包括吸入管道，所述吸入管道延伸穿过所述测量头，其特征在于，

所述测量头具有小于20毫巴的压差P_g，所述压差是按照如下方法确定的：首先，引导基准气流通过带有两个开口端的管并测量所述管内的压力P₁，然后将所述管的一端插入到所述测量头的吸入管道内，引导同一基准气流通过所述管并测量所述管内的压力P₂，从差值P₂-P₁确定所述测量头的压差P_g。

5.根据权利要求4所述的测量探针，其特征在于，

所述测量头的压差P_g小于15毫巴。

6.根据权利要求1或4所述的测量探针，其特征在于，

所述比值L/D²小于0.6mm^-1，并且所述测量头的压差P_g小于20毫巴。

7.根据权利要求1或4所述的测量探针，其特征在于，

所述比值L/D²小于0.45mm^-1，并且所述测量头的压差P_g小于20毫巴。

8.根据权利要求1或4所述的测量探针，其特征在于，

所述比值L/D²小于0.3mm^-1，并且所述测量头的压差P_g小于20毫巴。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的测量探针，其特征在于，

所述测量头由从如下群组中选择的材料制成：陶瓷材料，水泥，钢，铸造用砂。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的测量探针，其特征在于，

所述吸入管道是用石英玻璃管制成的。

11.根据权利要求1至10中任一项所述的测量探针，其特征在于，

所述采样室至少部分被由铸造用砂制成的砂体包围。

12.根据权利要求1至11中任一项所述的测量探针，其特征在于，

所述采样室在相互垂直的第一方向和第二方向上的长度大于在与所述第一方向和第二方向都垂直的第三方向上的长度，并且所述吸入管道与所述第三方向垂直地通入所述采样室。

13.根据权利要求1至12中任一项所述的测量探针，其特征在于，

所述测量头还带有至少一个电化学传感器。

14.根据权利要求1至13中任一项所述的测量探针在吹炼过程期间在用于炼钢的转炉中的金属熔体中进行测量和采样的应用。

15.根据权利要求1至13中任一项所述的测量探针在电弧炉中的金属熔体中进行测量和采样的应用。