[发明专利]旋转轴相位差校准系统无效

专利信息
申请号: 201110151864.X 申请日: 2011-06-08
公开(公告)号: CN102221633A 公开(公告)日: 2011-10-19
发明(设计)人: 马铁华;靳鸿;张艳兵;张红艳;沈大伟;王燕;刘飞;付永乐;梁高翔 申请(专利权)人: 中北大学
主分类号: G01P21/02 分类号: G01P21/02
代理公司: 北京太兆天元知识产权代理有限责任公司 11108 代理人: 傅权;赵水茂
地址: 030051 山*** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: 旋转轴 相位差 校准 系统
【权利要求书】:

1.一种旋转轴校准系统,用于校准测试旋转轴转速的仪器或装置,特征在于:该校准系统包括有:一台电机及其驱动的旋转轴、安装旋转轴的支架及支架上安装的套筒1。

2.根据权利要求1所述的旋转轴校准系统,特征在于:

a.所述的旋转轴的前端由电机轴通过联轴器连接在同轴线上;

b.所述的旋转轴的中部可转动地设置或安装在支架上;

c.所述的支架上安装的套筒1由同轴线设置或安装的外筒1与内筒1组成,内筒1靠随动套1安装在旋转轴上,外筒1安装在支架上。

3.根据权利要求1所述的旋转轴校准系统,特征在于:

I.首先该校准系统的测试旋转轴转速的仪器或装置要进行标定,该标定须在旋转轴转速的标定系统中或采用本校准系统按标定规定的标定步骤或标定过程进行;

II.标定之后的测试旋转轴转速的仪器或装置可作为被校准部分,在本校准系统上进行校准,其校准步骤或校准过程有:①.被校准部分的测试旋转轴转速的仪器或装置按照校准要求安装在本校准系统中;②.检测校准部分和被校准部分的安装、连接是否正确、可靠;③.启动电机,控制旋转轴转动,产生标称转速,并用被校准部分测出旋转轴的实际转速;④.按照校准要求,重复③.步骤或过程,改变旋转轴的转速,得到校准用一系列旋转轴的标称转速及与之对应的实测转速;⑤.实测转速与标称转速进行对比,可实现被校准部分的测试旋转轴转速的仪器或装置的校准。

4.一种旋转轴相位差校准系统,用于校准测试旋转轴相位差的仪器或装置,特征在于:该校准系统包括有:一台电机及其驱动的旋转轴、旋转轴的支架及支架上安装的套筒1、旋转轴后端安装的定位座、定位座上安装的套筒2、一分度头及分度头爪上安装的短轴。

5.根据权利要求4所述的旋转轴相位差校准系统,特征在于:

a.所述的旋转轴的前端与电机轴通过联轴器连接在同轴线上;

b.所述的旋转轴的中部可转动地设置或安装在支架上;定位座可转动地设置或安装在旋转轴后端,通过定位座旋转轴后端与短轴前端同轴线地设置或安装在一起,短轴前端与定位座固连一起,短轴的尾端与分度头爪固连一起;

c.所述的支架上安装的套筒1由同轴线设置或安装的外筒1与内筒1组成,内筒1靠随动套1安装在旋转轴上,外筒1安装在支架上;

d.所述的定位座上安装的套筒2由同轴线设置或安装的外筒2与内筒2组成,内筒2靠随动套2安装在旋转轴上,外筒2安装在定位座上。

6.根据权利要求4所述的旋转轴相位差校准系统,特征在于:该校准系统的校准步骤或校准过程是:

I.首先该校准系统的测试旋转轴相位差的仪器或装置要进行标定,该标定须在旋转轴相位差的标定系统中或采用本校准系统按标定规定的标定步骤或标定过程进行;

II.标定之后的测试旋转轴相位的差仪或装置可作为被校准部分,在本校准系统上进行校准:在旋转轴转动下校准,其校准步骤或校准过程有:①.被校准部分的测试旋转轴相位差的仪器或装置按照校准要求安装在本校准系统中;②.检测校准部分和被校准部分的安装、连接是否正确、可靠;③.转动分度头手柄使得分度头爪带动外筒2转动,可产生一个相位角,由于外筒1是不动的,从而使外筒1与外筒2二者间产生一个相位差,作为校准的标称相位差值,启动电机,控制旋转轴转动,被校准部分此时测出外筒1与外筒2二者间实际相位差值;④.按照校准要求,重复③.步骤或过程,旋转分度头,改变外筒1与外筒2间的相位差,启动电机,控制旋转轴转动,得到校准用一系列标称相位差及与之对应的实测相位差;⑤.实测相位差与标称相位差进行对比,可实现被校准部分的测试旋转轴相位差的仪器或装置的校准。

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