[发明专利]一种表面等离子体共振传感检测系统及其检测方法

权利要求书

1.一种表面等离子体共振传感检测系统，其特征在于，所述系统包括：

光源；

第一分光器，用于将所述光源发出的光分为第一束光和第二束光；

第一反射镜，用于使所述第一束光反射回并透过所述第一分光器；

棱镜，用于接收所述第二束光，使其以共振角投射于传感面；

第二反射镜，用于反射从所述棱镜出射的第二束光，使其与经所述第一分光器透射的第一束光共路；

起偏器，用于获取所述第一束光中的第一P偏振光和第二束光中的第二P偏振光；

第一探测器，用于探测所述第一P偏振光与第二P偏振光干涉叠加的光强；以及

控制器，用于控制所述第一反射镜，使其沿所述第一束光的传播方向往复运动。

2.如权利要求1所述的表面等离子体共振传感检测系统，其特征在于，所述起偏器为获取所述第一束光中的第一P偏振光和第一S偏振光及第二束光中的第二P偏振光和第二S偏振光的偏振分光镜或偏振分光棱镜，所述第一S偏振光与第二S偏振光干涉叠加的光强由第二探测器探测。

3.如权利要求1或2所述的表面等离子体共振传感检测系统，其特征在于，所述光源为非相干光源或部分相干光源。

4.如权利要求1或2所述的表面等离子体共振传感检测系统，其特征在于，所述第一分光器为分光棱镜或分光镜。

5.如权利要求2所述的表面等离子体共振传感检测系统，其特征在于，所述第一探测器和第二探测器均为光电二极管或光电倍增管。

6.一种采用如权利要求1所述的表面等离子体共振传感检测系统进行检测的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

将标准样品注入样品池，使所述第二束光以共振角投射于所述棱镜的传感面，调节所述第一反射镜和第二反射镜的位置，使所述第一P偏振光与第二P偏振光相干叠加，记录P偏振光的包络最大值的初始位置；

通入被测样品并使所述第一反射镜沿所述第一束光的传播方向往复运动，实时记录P偏振光的包络最大值的位置；

根据所述P偏振光的包络最大值的位置相对于其初始位置的变化情况，并结合所述第一反射镜的位置的变化情况依次反推所述第二光束的相位变化和样品折射率的变化，进而获得所述被测样品的性状。

7.如权利要求6所述的检测方法，其特征在于，于获取所述第一束光中的第一P偏振和第二束光中的第二P偏振光的同时，获取所述第一束光中的第一S偏振光和第二束光中的第二S偏振光；

注入所述标准样品时，记录S偏振光的包络最大值的初始位置和所述P偏振光的包络最大值的初始位置，并计算出两者间的初始相对距离；

通入被测样品时，实时记录所述P偏振光的包络最大值的位置相对于所述S偏振光的包络最大值的位置的变化情况；

根据所述P偏振光的包络最大值的位置相对于所述S偏振光的包络最大值的位置的变化情况和两者间的初始相对距离，并结合所述第一反射镜的位置的变化情况依次反推所述第二光束的相位变化和样品折射率的变化，进而获得所述被测样品的性状。