[发明专利]地址转变检测电路

权利要求书

1.一种地址转变检测电路，其特征在于，包括一第一地址转变检测信号产生装置、一第二地址转变检测信号产生装置、一反相器和一信号合成装置；

所述第一地址转变检测信号产生装置和第二地址转变检测信号产生装置相同；所述第一地址转变检测信号产生装置的输入端接地址信号；所述第二地址转变检测信号产生装置的输入端接所述地址信号的反相信号，所述反相信号由所述反相器的输出端输出、所述反相器的输入端接所述地址信号；

所述第一地址转变检测信号产生装置和第二地址转变检测信号产生装置都在各自输入信号的上升沿处产生一输出脉冲、在各自输入信号的下降沿处不产生输出脉冲；或者，所述第一地址转变检测信号产生装置和第二地址转变检测信号产生装置都在各自输入信号的下降沿处产生一输出脉冲、在各自输入信号的上升沿处不产生输出脉冲；

所述信号合成装置的输入端分别接所述第一地址转变检测信号产生装置的输出端和第二地址转变检测信号产生装置的输出端，所述信号合成装置将所述第一地址转变检测信号产生装置的输出脉冲和所述第二地址转变检测信号产生装置的输出脉冲合成后输出，所述信号合成装置的输出端在所述地址信号的上升沿和下降沿都产生一输出脉冲。

2.如权利要求1所述地址转变检测电路，其特征在于：所述第一地址转变检测信号产生装置和第二地址转变检测信号产生装置都包括一第一单边延迟电路和一第一与非门；所述第一与非门的第一输入端为信号的输入端、所述第一与非门的第一输入端还和所述第一单边延迟电路的输入端相连；所述第一与非门的第二输入端和所述第一单边延迟电路的输出端相连；所述第一与非门的输出端为信号的输出端；

所述第一单边延迟电路的输出信号为输入信号的反相信号的延迟信号；所述第一单边延迟电路的输出信号只对输入信号的上升沿有延迟、对输入信号的下降沿的延迟为最小本征值；

所述第一单边延迟电路对输入信号的延迟时间确定所述第一与非门的输出端的输出脉冲的宽度。

3.如权利要求2所述地址转变检测电路，其特征在于：所述第一单边延迟电路包括：N个第一CMOS反相延迟电路、N个第二CMOS反相延迟电路和一反相器，N为偶数；

所述第一CMOS反相延迟电路包括一个第一PMOS管和多个串联的第一NMOS管；所述第一PMOS管的源极接正电源，所述第一PMOS管的栅极和所述多个第一NMOS管的栅极连接，所述多个第一NMOS管串接于所述第一PMOS管的漏极和负电源间；所述第一PMOS管的栅极为输入端、所述第一PMOS管的漏极为输出端；

所述第二CMOS反相延迟电路包括多个串联的第二PMOS管和一个第二NMOS管；所述第二NMOS管的源极接负电源，所述第二NMOS管的栅极和所述多个第二PMOS管的栅极连接，所述多个第二PMOS管串接于所述第二NMOS管的漏极和正电源间；所述第二NMOS管的栅极为输入端、所述第二NMOS管的漏极为输出端；

N个所述第一CMOS反相延迟电路和N个所述第二CMOS反相延迟电路交替串联于输入信号和所述反相器的输入端间，第一个所述第一CMOS反相延迟电路的输入端接输入信号，第N个所述第二CMOS反相延迟电路的输出端连接所述反相器的输入端，所述反相器的输出端输出输出信号。