[发明专利]负载驱动装置及使用了负载驱动装置的电气设备

说明书

技术领域

本发明涉及负载驱动装置及使用了负载驱动装置的电气设备，特别涉及利用晶体管来进行过电流的检测的负载驱动装置以及利用该负载驱动装置的电气设备。

背景技术

在现有技术中，利用检测电阻作为检测流过负载驱动装置的输出晶体管的过电流的电路，并检测该检测电阻所生成的电压的方法是公知的。另外，不利用电阻而利用输出晶体管之外的晶体管来进行检测的方法也是公知的。

专利文献1(JP特开2009-11112号公报)公开了使用如下部件来进行过电流检测的构造：利用了与功率晶体管连接的金属布线的寄生电阻分量的输出电流检测用电阻；由一对双极型晶体管Q1、Q2构成，并在各自的发射极间施加输出电流检测用电阻的两端电压的第一电流镜(current mirror)电路；将该一对晶体管的集电极电流维持为规定的镜比(mirror ratio)的第二电流镜；和按照晶体管Q2的集电极电压来导通/截止的开关元件。

专利文献2(JP特开平4-134271号公报)提出了如下技术：作为检测流过输出端子的电流的过电流电路的功能，利用虽然输出晶体管的特性等同，但晶体管尺寸不同的比较用晶体管和恒流源来生成参考电压，并使用将该参考电压与设置于输出晶体管和负载之间的输出端子的电压进行比较的比较器，来检测过电流。

专利文献3(JP特开2004-247834号公报)公开了如下构造：对输出级的PMOS晶体管的源极—漏极间电压进行A/D变换后，与过电流判定基准电压比较，来检测过电流。

专利文献4(JP特开平6-30523号公报)能够通过基于对电源和电动机驱动系统进行截断的开关的源极—漏极间的电位而进行导通控制的晶体管，来控制开关的栅极电位，由此进行过电流保护。

专利文献1，由于是通过寄生于金属布线的布线电阻分量来实现用于过电流检测的电阻，因此有芯片成本增加的问题。

专利文献2的过电流保护电路，由于对比较器的输入端施加与输出电压几乎相等的电压，因此不适合处理高电压的环境。

专利文献3通过比较源极—漏极间电压和基准电压来进行过电流检测，而为了计算源极—漏极间电压，需要用到减法电路等，因此有电路构成变复杂的问题。

专利文献4，为了检测源极—漏极间电压以及截断过电流，主要利用电阻和电容器等来构成电路，因此有电路规模变大的问题。

发明内容

本发明的课题在于，鉴于上述问题点，提供一种在不利用检测用的电阻或铝布线的布线电阻的前提下，实现电路规模的缩小，并在使用高电压的环境下，也能够以较简单的构成来使用，且具备过电流检测电路以及保护电路的负载驱动装置以及利用该负载驱动装置的电气设备。

为了实现上述目的，在本说明书中所公开的负载驱动装置，具有：控制部，其基于输入信号来生成第一控制信号；第一输出晶体管，其基于所述第一控制信号来对负载提供输出电流；第一分压电路，其利用串联连接的第一晶体管和第二晶体管来对所述第一输出晶体管的第一主电极和第二主电极间的电压进行分压，并输出第一分压电压；第一电压生成电路，其输出第一基准电压；和第一比较器，其基于所述第一基准电压和所述第一分压电压来对所述控制部提供第一过电流检测信号。

此外，关于本发明的其他的特征、要素、步骤、优点以及特性，通过以下的最佳实施方式的详细说明和与此相关的附图会更加明确。

附图说明

图1是表示本发明的负载驱动装置的第一实施方式的电路图。

图2A是本发明的负载驱动装置的电压生成电路的第一构成例。

图2B是本发明的负载驱动装置的电压生成电路的第二构成例。

图3是表示本发明的负载驱动装置的第二实施方式的电路图。

图4是表示本发明的负载驱动装置的第二实施方式的其它构成的电路图。

图5是表示本发明的电气设备的电路图。

图6是表示在电气设备中利用本发明的负载驱动装置的第一构成例的电路图。

图7是表示在电气设备中利用本发明的负载驱动装置的第二构成例的电路图。

(符号说明)

2  控制部

5  掩码电路

6  微型计算机

7  H桥电路

8  逆变器

10、12、14、16  比较器

20、22、24、26  分压电路

30、32、34、36  电压生成电路

40、42、44、46  电流源