[发明专利]一种容性负载测试电路及方法有效
申请号: | 201110157670.0 | 申请日: | 2011-06-13 |
公开(公告)号: | CN102262193A | 公开(公告)日: | 2011-11-30 |
发明(设计)人: | 张敏 | 申请(专利权)人: | 深圳市普联技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人: | 张全文 |
地址: | 518055 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 负载 测试 电路 方法 | ||
技术领域
本发明属于电路测试领域,尤其涉及一种容性负载测试电路及方法。
背景技术
容性负载,是指电源转换器在启动瞬间,其输出端所能并联的电容容量。目前,为了平滑电压、吸收纹波电流且进一步降低纹波电压,通常会在电源的后级电路并联大容量电容,此大容量电容即为容性负载。现有的电源转换器多数具有过流保护或者短路保护功能,所以当电源启动,输出电压瞬间从0V上升到额定输出电压时,并联在电源输出端的大容量电容相当于一个大电流负载,此大电流负载会导致电源转换器触发保护功能并关闭输出,从而使电源启动失败。在电源第一次启动失败后,电源转换器会在短时间内重新尝试输出电压,此时大容量电容尚未充分放电,其阻抗降低,从而使电源转换器能够成功输出额定电压。然而,电源转换器经过第一次启动失败,第二次启动成功后,其输出电压并非单调上升,而是经过了一定的跳变过程后达到额定电压输出,这样就会使电源后级电路的上电时序被打乱,从而导致后级电路无法正常工作,甚至出现元器件损坏的问题。
现有技术通过测试由电容量相同的电容并联而成的容性负载,运用手动机械开关来调节交流电源,控制电容的通断达到改变电容值,进而利用示波器检测电源转换器的输出电压波形判断电源的输出电压是否满足容性负载的要求,然而,上述现有技术由于采用电容量相同的电容并联而成的容性负载、示波器和手动机械开关,导致测试效率低、电路结构复杂且成本高的问题。
发明内容
本发明提供了一种容性负载测试电路,旨在解决现有技术中存在的测试效率低、电路结构复杂且成本高的问题。
本发明是这样实现的,一种容性负载测试电路,外接电子负载以及与交流电源相连接的待测电源转换器,所述容性负载测试电路包括:
负载电容群,用于对所述待测电源转换器输出的直流电信号中夹杂的纹波电流进行滤除;以及
微处理器,通过继电器与所述待测电源转换器以及所述负载电容群连接,用于控制所述待测电源转换器的通断,以及控制负载电容群中的电容与所述待测电源转换器的通断,输出所述待测电源转换器的容性负载。
本发明还提供了一种利用上述容性负载测试电路进行容性负载测试的方法,所述方法包括下述步骤:
A、断开所述负载电容群中所有电容与所述待测电源转换器的连接,并启动所述电子负载;
B、启动所述待测电源转换器,检测所述待测电源转换器是否正常启动;
C、当检测到所述待测电源转换器正常启动时,关闭所述待测电源转换器;
D、根据所述负载电容群中电容的连接结构对应的负载电容添加方式,将所述负载电容群中的电容添加到所述待测电源转换器负载电容中,跳转至步骤B;
E、当检测到所述待测电源转换器非正常启动时,输出所述待测电源转换器的容性负载。
本发明实施例提供了一种容性负载测试电路和相应的测试方法,该容性负载测试电路以微处理器和负载电容群为核心,通过微处理器实现负载电容群中电容加入到待测电源转换器负载电容中的自动控制,在负载电容群中电容加入到待测电源转换器的负载电容中过程通过检测待测电源转换器是否正常启动来获得待测电源转换器的负载电容,实现了测试过程的自动化,进而提高了待测电源转换器负载电容的测试效率,该测试电路结构简单,降低了测试的成本。
附图说明
图1是本发明第一实施例提供的容性负载测试电路的模块结构图;
图2是本发明第二实施例提供的容性负载测试电路的模块结构图;
图3a和图3b是本发明第三实施例提供的容性负载测试电路的结构图;
图4是本发明第四实施例提供的容性负载测试方法的实现流程图;
图5是本发明第五实施例提供的容性负载测试方法的实现流程图;
图6是本发明第六实施例提供的容性负载测试方法的实现流程图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
本发明实施例通过容性负载测试电路中微处理器实现负载电容群中电容加入到交流电源的负载电容中的自动控制,在负载电容群中电容加入到待测电源转换器的负载电容中过程通过检测待测电源转换器是否正常启动来获得待测电源转换器的负载电容,实现了测试过程的自动化,进而提高了待测电源转换器负载电容的测试效率,且该测试电路结构简单,降低了测试的成本。
实施例一:
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