[发明专利]一种AMOLED微型显示器的寿命评估方法

说明书

技术领域

本发明涉及OLED（有机发光二极管）显示器的寿命评估方法，尤其是一种AMOLED（主动矩阵式有机发光二极管）微型显示器的寿命评估方法。

背景技术

OLED即有机发光二极管是近年来发展迅速的一门技术。从驱动方式上，OLED可分为主动矩阵式(AMOLED)和被动矩阵式(PMOLED)，一般来说，屏幕对角线1英寸以下的，称为OLED微型显示器。与传统的LCD相比，OLED显示器具有自发光、视角广，响应时间快，发光效率高，操作电压低，面板厚度薄，工作温度范围广，可柔性制作，生产成本低等优势，因此被视为下一代的主流显示技术，只是稍有不足的是OLED的寿命较短。

OLED为电流致发光工作机制，在恒定电流下，OLED器件会因非本质和本质劣化因素发生退化，非本质因素包括基板的平整度原因、微小颗粒的污染、有机层与电极层的分离以及金属层的颗粒变化等，而本质因素则包括有机膜的稳定性和激发态的稳定性变化、可移动的离子杂质以及正电荷的积累影响等。器件退化的外在表现是在恒定驱动下，亮度会随着时间衰减。亮度衰减到初始值一半时经过的时间称之为半衰期t_1/2，半衰期表征OLED显示器的寿命。

OLED由多层有机薄膜组成，包括电子、空穴注入层、电子、空穴传输层、电子、空穴阻挡层、发光层等。在发光层中掺杂不同的荧光/磷光分子，OLED会发出不同颜色的光。不同的多层膜结构设计、材料应用，也会显著影响OLED器件的寿命。

AMOLED微型显示器可广泛应用在各个领域，不同场合下的目标使用亮度不同，相应的寿命也不同。因此，全面评估出AMOLED微型显示器的寿命以及建立一套完整的AMOLED微型显示器寿命评估方法，可以更好地指导生产，对推进其大规模的商业应用，具有重要意义。

发明内容

本发明的目的是提出一种AMOLED微型显示器的寿命评估方法，以达到较全面地评估，尤其是推算出其在低亮度下的使用寿命，以满足其指导大规模商业应用的需要。

本发明的一种AMOLED微型显示器的寿命评估方法，其特征在于该方法包括以下步骤：

（1）在具有相同占空比T_on、不同电流驱动信号周期T的驱动下，对至少6个样本的AMOLED微型显示器在初始亮度L₀的亮度下进行器件的加速老化测试，其中，占空比T_on为使用时间t₁与驱动信号周期T比值，占空比T_on值在0至1之间，驱动信号周期T在500ms以下，初始亮度L₀至少为1000cd/m2；

（2）对该加速老化过程建立亮度衰减的理论模型即SED理论模型，并计算出各个样本在加速老化测试中相对应的半衰期t_1/2；

SED理论模型的数学表达式为：

其中，t为衰减时间，L_(t)为对应时刻的亮度，L₀为初始亮度，τ和β为两个待定系数，通过拟合L-t曲线，求出τ和β，令L_(t)/L₀=0.5，则可求出半衰期t_1/2；

（3）对亮度衰减的理论模型进行分析，通过步骤（2）所计算得出的不同样本β偏差值评估同一批器件的均匀性、结构稳定性，β偏差越小，则生产均匀性越好，β偏差越大，则生产均匀性越不好，β的相对偏差应在10%以内；

（4）建立寿命推算模型，推算模型的数学表达式为：

其中，L₀为初始亮度，t_1/2为半衰期，根据上述步骤中各个样本的L₀取值和计算出的相对应的t_1/2值，通过拟合求出n和C确定该表达式，然后根据显示器实际使用亮度L_obj值，求出L_obj下的t_1/2值。

所述的老化测试过程中，需要定期采集不同时刻t对应的显示器亮度L_(t)，时间间隔Δt为0.5h～2h。

所述的时间间隔Δt值优选为1h。对于老化初期，Δt可取0.5h，老化后期取2h。

所述的占空比T_on值为1/4、1/2或8/9。