[发明专利]一种射频功率管的测试方法有效

专利信息
申请号: 201110159940.1 申请日: 2011-06-15
公开(公告)号: CN102288846A 公开(公告)日: 2011-12-21
发明(设计)人: 李健锋;罗鹏;何龙云;郭浩胜;郑涛 申请(专利权)人: 博威科技(深圳)有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 代理人: 杨宏;王永文
地址: 518000 广东省深圳市宝安区石岩*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 射频 功率管 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种射频功率管的测试方法,其特征在于,包括:

烘烤射频功率管;

测试每一射频功率管的静态阻值;

对每一射频功率管进行无焊接射频参数测试;

按配对电压和配对增益,将所述射频功率管进行分类。

2.根据权利要求1所述的射频功率管的测试方法,其特征在于,所述烘烤射频功率管的步骤包括:

采用140℃±10℃的温度,将射频功率管烘烤24小时。

3.根据权利要求1所述的射频功率管的测试方法,其特征在于,所述对每一射频功率管进行无焊接射频参数测试的步骤具体包括:

将射频功率管放入推拉测试装置的测试槽中;

通过推拉测试装置的压紧机构将射频功率管的引脚固定;

将推拉测试装置的测试电流设为预定测试电流;

测试射频功率管的增益和输入端电压。

4.根据权利要求3所述的射频功率管的测试方法,其特征在于,所述预定测试电流为200mA或者500mA。

5.根据权利要求1所述的射频功率管的测试方法,其特征在于,所述配对电压按0.1V偏差划分。

6.根据权利要求1所述的射频功率管的测试方法,其特征在于,所述配对电流按0.2dB偏差划分。

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