[发明专利]电荷丢失校正无效
申请号: | 201110160505.0 | 申请日: | 2011-06-03 |
公开(公告)号: | CN102331586A | 公开(公告)日: | 2012-01-25 |
发明(设计)人: | K·A·万格林;李文;杜岩峰;F·H·詹森 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | G01T1/161 | 分类号: | G01T1/161;A61B6/03 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 柯广华;朱海煜 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电荷 丢失 校正 | ||
1.一种用于校正辐射检测器(12)中的电荷丢失的方法,其包括步骤:
从所述辐射检测器(12)采集(56)一个或多个阳极信号(64)和阴极信号(66),其中所述一个或多个阳极信号(64)和阴极信号(66)响应于与所述辐射检测器(12)的伽玛射线相互作用(48)而出现;
确定与所述辐射检测器(12)的伽玛射线相互作用(48)的相互作用深度(82);
确定关于所述一个或多个阳极(44)的伽玛射线相互作用(48)的横向位置;
将所述一个或多个阳极信号(64)基于所述相互作用深度(82)和横向位置分类到多个谱中之一中;
基于所述一个或多个阳极信号(64)和所述一个或多个阳极信号(64)的预期值之间的差别确定(96)校正因数(98)。
2.如权利要求1所述的方法,其中确定(96)所述校正因数(98)包括以下其中之一:确定所述一个或多个阳极信号(64)和所述一个或多个阳极信号(64)的预期值之间的偏离、确定谱中平均峰高的比率,或确定用于拟合预期和观察能谱的倍增因数。
3.如权利要求1所述的方法,其中确定所述相互作用深度(82)包括使用所述阴极信号(66)和阳极信号(64)的比率计算(80)所述相互作用深度(82)。
4.如权利要求1所述的方法,其中确定所述相互作用深度(82)包括使用时序数据(68)计算所述相互作用深度(82)。
5.一种成像系统,其包括:
辐射检测器(12),其包括直接转换材料(40)、设置在所述直接转换材料(40)的第一表面上的一个或多个阴极电极(42)和设置在所述直接转换材料(40)的第二表面上的多个阳极电极(44);
与所述一个或多个阴极电极(42)和所述多个阳极电极(44)通信的数据采集电路(14);
与所述数据采集电路(14)通信的信号处理电路(16);以及
配置成控制所述数据采集电路(14)和所述信号处理电路(16)中的一个或二者的操作并且与其通信的操作员工作站(26);
其中所述数据采集电路(14)、所述信号处理电路(16)或所述操作员工作站(26)中的一个或多个配置成执行代码,其当执行时进行下列:
处理测量的信号数据集(64、66);
访问适合校正由于在所述阳极电极(44)中的两个或更多之间分流或丢失到分开相应阳极电极(44)的间隙(46)引起的电荷丢失的一个或多个校正因数;以及
应用(308)所述一个或多个校正因数于所述测量的信号数据集以产生校正了电荷丢失的校正信号数据集。
6.如权利要求5所述的成像系统,其中所述直接转换材料(40)包括碲化镉锌或其他适合的半导体。
7.如权利要求5所述的成像系统,其中所述一个或多个校正因数基于所述辐射检测器(12)内的相应电荷产生事件的相互作用深度(82)和横向位点来访问。
8.如权利要求5所述的成像系统,其中访问所述一个或多个校正因数包括访问其中存储校正因数的查找表或其他存储器位点。
9.如权利要求5所述的成像系统,其中所述一个或多个校正因数从描述基于相互作用深度(82)和横向取向所预期的电荷丢失的校准曲线(304)导出。
10.如权利要求5所述的成像系统,其中应用(308)所述一个或多个校正因数包括调节所述测量的信号数据中的一些或所有以对应于在没有电荷丢失的情况下预期由所述阳极电极(44)看到的信号量。
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