[发明专利]三极管测试电路

权利要求书

1.一种三极管测试电路，其特征在于：该三极管测试电路包括第一测试电路，一被测三极管的基极连接至一电源，该被测三极管的发射极接地，该第一测试电路包括发光二极管，该发光二极管的阳极连接至所述电源，该发光二极管的阴极通过一电阻连接至该被测三极管的集电极，通过观察该发光二极管的发光与否以判断所述被测三极管的类型。

2.如权利要求1所述的三极管测试电路，其特征在于：所述三极管测试电路包括第二测试电路，该第二测试电路连接该电源及被测三极管的集电极，用于对该被测三极管的放大倍数进行测试。

3.如权利要求2所述的三极管测试电路，其特征在于：所述第二测试电路包括一组电阻，其中一电阻的一端连接至该电源，该其中一电阻的另一端与另一电阻串联后连接至该被测三极管的集电极。

4.如权利要求3所述的三极管测试电路，其特征在于：该三极管测试电路用于通过与该组电阻串联的电流表测得该被测三极管的集电极电流数值，再根据该集电极电流数值与该电源为该被测三极管的基极提供的电流数值计算该被测三极管的放大倍数。

5.如权利要求3所述的三极管测试电路，其特征在于：该三极管测试电路用于通过与该组电阻中一电阻并联的电压表测得所述其中一电阻两端的电压数值，进而获得该被测三极管的集电极电流数值，再根据该集电极电流数值与该电源为该被测三极管的基极提供的电流数值计算该被测三极管的放大倍数。

6.如权利要求3所述的三极管测试电路，其特征在于：该三极管测试电路包括一组开关，其中一开关设置于该电源与第一测试电路之间，另一开关设置于该电源与第二测试电路之间，通过操作该组开关，以选择对该被测三极管的类型或放大倍数进行测试。

7.如权利要求6所述的三极管测试电路，其特征在于：所述其中一开关的一端连接至所述电源，所述其中一开关的另一端连接所述发光二极管的阳极，所述另一开关的一端连接至该电源，所述另一开关的另一端与该组电阻依次串联，当开启该其中一开关而关闭所述另一开关时，对该被测三极管的类型进行测试；当开启该另一开关而关闭该其中一开关时，则对该被测三极管的放大倍数进行测试。

8.如权利要求1所述的三极管测试电路，其特征在于：所述三极管测试电路包括保护电路，用于当所述被测三极管的类型与预设的类型不同或放置位置错误时，防止该被测三极管被击穿或损坏。

9.如权利要求8所述的三极管测试电路，其特征在于：所述保护电路包括光耦合器及二个三极管，该光耦合器包括发光二极管及感光三极管，所述光耦合器的发光二极管的阳极连接至该第一测试电路的发光二极管的阳极，该光耦合器的发光二极管的阴极通过电阻连接至所述被测三极管的集电极，所述感光三极管的基极与所述光耦合器的发光二极管正对设置，所述感光三极管的集电极通过电阻连接至所述电源，所述感光三极管的发射极连接至其中一三极管的基极，所述其中一三极管的发射极接地，所述其中一三极管的集电极连接至另一三极管的基极，并通过电阻连接至所述电源，该另一三极管的发射极接地，该另一三极管的集电极连接至所述被测三极管的集电极，并通过电阻连接至所述电源。

10.如权利要求1所述的三极管测试电路，其特征在于：所述三极管测试电路包括恒流电路，该恒流电路分别连接该电源及被测三极管的基极，用于为该被测三极管的基极提供一恒定电流，进而降低该被测三极管对环境温度的敏感程度，减少测试误差。