[发明专利]一种轴速检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及速度检测装置，尤其是一种利用红外技术对轴速进行检测的装置。 

背景技术

在一些机械、交通、发动机、机床等技术领域，设备中部件的转速的数值似乎需要进行控制的。当设备中的不见转动太快时会引起部件或其它不见设备的损坏，转速过慢时满足不了设备的需要。 

在一些精细设备上，比如数控机床，在加工的零件一般都是要求精加工的，这些数控机床对加工轴的转速是需要精确控制的，对轴进行精确控制就需要对轴的转速进行精确的检测。还有一些测速的设备，比如车速的测量，也是靠检测车轴的转速进行计算的。 

现有的一些轴速检测装置，是在轴承与轴承座间设置机械弹触部件，通过弹性部件触发计数装置对轴承的转速进行转速检测。这种机械弹触部件磨损很大，需要经常更换这种机械弹触部件，造成制造与使用维护成本比较高；由于磨损，也会降低检测的精度。 

发明内容

本发明的目的是提供一种轴速检测装置，利用红外计数，通过计算在规定的时间内接受到的红外光的次数计算轴速。 

为了达到以下目的，本发明采用以下技术方案： 

一种轴速检测装置，包括红外发光部分和红外检测计数部分，红外发光部分包括至少一个红外发光头，所述红外发光头置于轴承侧表面；红外检测计数部分，包括与红外发光头对应数量的红外探测头、计数器，还包括一MCU、一显示装置，红外探头与红外发光头对应设置；计数器的输入端与红外探测头的输出端连接，对接收到的红外光次数进行计数，并将计数结果送至MCU；MCU的输入端口与计数器的输出端口连接，接收计数器的计数值，并驱动显示装置显示计数值。

本发明的技术方案中，所述红外发光头的数为2～4个。作为优选，所述红外光发光头为优选为2个。 

本发明的技术方案中，所述MCU包括但不限于单片机、FPGA、DSP、专用IC的任一种。 

本发明的技术方案中，所述限制装置包括但不限于七段数码管显示装置、LED显示器、液晶显示器中的任一种显示装置。 

本发明的技术方案中，作为优选，还包括计时器，所述计时器的输出端与计数器的清零端连接，在规定的计时满足时将计数器的计数值清零。所述计时器的输出端与MCU的一个输入端连接。 

本发明的有益技术效果：本发明不使用机械弹触部件，而是采用在待测轴上设置红外发光部分，并设置有红外检测计数部分；红外发光部分的红外发光头设置在待测轴的外侧面上，与红外发光头对应设置的红外检测头在每次检测红外光以后就使技术器计数一次，MCU接受计数器的计数值计算轴转速并驱动显示装置显示计算出来的轴转速。由于没有机械的磨损，红外器件的使用寿命又比较长，红外检测技术比较成熟，因此使用维护成本比较低，检测效率和准确度比较高。 

附图说明

本发明将通过例子并参照附图的方式说明，其中： 

图1是本发明轴速检测装置的实施例一的原理图。

图2是本发明轴速检测装置的实施例二的原理图。 

图3是本发明轴速检测装置的实施例三的原理图。 

图中附图标记说明：110、210、310为红外发光头，121、221、321为红外探测头，122、222、322为计数器，120、220、320为MCU，124、224、324为显示装置，223、323为计时器。 

具体实施方式

本说明书中公开的所有特征，或公开的所有方法或过程中的步骤，除了互相排斥的特征和/或步骤以外，均可以以任何方式组合。 

本说明书（包括任何附加权利要求、摘要和附图）中公开的任一特征，除非特别叙述，均可被其他等效或具有类似目的的替代特征加以替换。即，除非特别叙述，每个特征只是一系列等效或类似特征中的一个例子而已。 

在对实施例进行详细说明之前，先说明下图中附图标记：110、210、310为红外发光头，121、221、321为红外探测头，122、222、322为计数器，120、220、320为MCU，124、224、324为显示装置，223、323为计时器。 

实施例一