[发明专利]微粒分析装置和方法

权利要求书

1.一种微粒分析装置，包括：

光源；

第一聚光透镜，用于将来自所述光源的光会聚至多模光纤的第一端；

第二聚光透镜，用于将从所述多模光纤的第二端出射的所述光会聚至微粒；以及

检测器，用于检测通过施加来自所述光源的所述光而从所述微粒产生的光。

2.根据权利要求1所述的微粒分析装置，还包括，

光偏转装置，用于随时间改变来自所述光源的所述光在所述多模光纤的所述第一端处的入射位置。

3.根据权利要求2所述的微粒分析装置，其中，所述光偏转装置包括用于衍射来自所述光源的所述光的声光偏转器；并且

所述微粒分析装置还包括，

控制装置，用于改变将被施加至所述声光偏转器的声波的频率。

4.根据权利要求2所述的微粒分析装置，其中，所述光偏转装置包括用于衍射来自所述光源的所述光的电光偏转器；并且

所述微粒分析装置还包括，

控制装置，用于改变将被施加至所述电光偏转器的电压。

5.根据权利要求1所述的微粒分析装置，其中，在所述第一端处的所述多模光纤的芯的截面为圆形或矩形。

6.一种微粒分析方法，包括：

将来自光源的光会聚至多模光纤的第一端；

将从所述多模光纤的第二端出射的所述光会聚至微粒；以及

检测通过施加来自所述光源的所述光而从所述微粒产生的光。

7.根据权利要求6所述的微粒分析方法，还包括，

随时间改变来自所述光源的所述光在所述多模光纤的所述第一端处的入射位置。

8.根据权利要求7所述的微粒分析方法，其中，所述随时间改变所述入射位置的步骤包括：

使用用于衍射来自所述光源的所述光的声光偏转器；以及

改变将被施加至所述声光偏转器的声波的频率。

9.根据权利要求7所述的微粒分析方法，其中，所述随时间改变所述入射位置的步骤包括：

使用用于衍射来自所述光源的所述光的电光偏转器；以及

改变将被施加至所述电光偏转器的电压。