[发明专利]多通道红外探测器中条纹非均匀性实时校正方法有效

专利信息
申请号: 201110162823.0 申请日: 2011-06-17
公开(公告)号: CN102289788A 公开(公告)日: 2011-12-21
发明(设计)人: 赵春光;王寿峰;白俊奇;孙宁 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第二十八研究所
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 柏尚春
地址: 210007 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 通道 红外探测器 条纹 均匀 实时 校正 方法
【权利要求书】:

1.一种多通道红外探测器中条纹非均匀性实时校正方法,其特征在于包括如下步骤:

(1)利用标准参考辐射源,初始化多通道红外探测器的条纹非均匀性变化区间[NUmin(j),NUmax(j)];NUmin(j)和NUmax(j)分别表示第j读出通道变化区间的最小值和最大值,第j读出通道对应于图像的第j列;

(2)输入原始红外图像Xraw

(3)校正原始红外图像的点状非均匀性,输出点校图像Xfix

(4)构造读出通道方向的高通滤波器,对点校图像Xfix高通滤波,得到Xfix的高频分量Xhigh

(5)对点校图像Xfix高频分量Xhigh像素点进行筛选,消除目标高频分量对条纹非均匀性校正参数的影响;

(6)基于步骤(5)计算第j读出通道条纹非均匀性的校正参数O(j);

(7)对点校图像Xfix的条纹非均匀性进行抑制,输出校正图像Xout

(8)更新第j读出通道条纹非均匀性的变化区间[NUmin(j),NUmax(j)];

(9)输入新一帧原始红外图像,跳转至步骤(3)。

2.根据权利要求1所述的多通道红外探测器中条纹非均匀性实时校正方法,其特征在于:步骤(1)中,条纹非均匀性变化区间的估计服从高斯3σ分布,即样本期望的三倍方差内是正常数值,表示为集合Y,

Y={X(k)|μ-3σ≤X(k)≤μ+3σ,1≤k≤n}

u=1nΣk=1nX(k)]]>

σ=1n-1Σk=1n(X(k)-u)2]]>

其中,X(k)是样本,μ是期望,σ是标准差,n是样本总个数。

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