[发明专利]LED应用产品自动化生产线有效
申请号: | 201110163999.8 | 申请日: | 2011-06-17 |
公开(公告)号: | CN102833956A | 公开(公告)日: | 2012-12-19 |
发明(设计)人: | 唐绍荣;熊周成 | 申请(专利权)人: | 深圳路升光电科技有限公司 |
主分类号: | H05K3/30 | 分类号: | H05K3/30;G01R31/26 |
代理公司: | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人: | 陆军 |
地址: | 518055 广东省深圳市宝*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | led 应用 产品 自动化 生产线 | ||
1.一种LED应用产品自动化生产线,其特征在于,包括自动组装设备及老化测试设备,其中所述自动组装设备用于将LED及电子元件装配到电路基板以形成PCB板,所述老化测试设备用于对带有LED的PCB板进行通电老化测试,所述自动组装设备和老化测试设备之间通过传送带或机械手相连。
2.根据权利要求1所述的LED应用产品自动化生产线,其特征在于,还包括通过机械手或传送带接于所述老化测试设备出口的成品组装设备,所述成品组装设备用于为经过老化测试的PCB板装配塑胶套件。
3.根据权利要求1或2所述的LED应用产品自动化生产线,其特征在于,所述老化测试设备包括低温老化测试设备或高温老化测试设备,所述低温老化测试设备或高温老化测试设备包括测试线,所述测试线包括传送轨道及在所述传送轨道上的托架,所述托架包括多个放置PCB板的基座,所述传送轨道通过托架为基座内的PCB板供电。
4.根据权利要求1或2所述的LED应用产品自动化生产线,其特征在于,所述老化测试设备包括低温老化测试设备和高温老化测试设备,其中低温老化测试设备和高温老化测试设备之间通过传送架相接,所述低温老化测试设备和高温老化测试设备分别包括测试线,所述测试线包括传送轨道及在所述传送轨道上的托架,所述托架包括多个放置PCB板的基座,所述传送轨道通过托架为基座内的PCB板供电。
5.根据权利要求4所述的LED应用产品自动化生产线,其特征在于,所述低温老化测试设备包括有冷冻室,所述冷冻室的两端分别设有冷库门,所述测试线位于两个冷库门之间。
6.根据权利要求4所述的LED应用产品自动化生产线,其特征在于,所述低温测试设备包括多层测试线,所述多层测试线的传送轨道的传输方向相同。
7.根据权利要求6所述的LED应用产品自动化生产线,其特征在于,所述低温老化测试设备的入口设有用于将带有PCB板的托架置于低温老化设备不同层测试线上的装置。
8.根据权利要求4所述的LED应用产品自动化生产线,其特征在于,所述高温老化测试设备包括多层测试线以及移层设备,相邻层测试线的传送轨道的传输方法相反,所述移层设备用于将高温老化测试设备的上层测试线上的托架移动到下层的测试线。
9.根据权利要求8所述的LED应用产品自动化生产线,其特征在于,所述高温老化测试设备和低温老化测试设备之间设有多层过渡段,所述多层过渡段用于放置经低温老化测试设备处理的PCB板及托架并将所述PCB板及托架送入高温老化测试设备的其中一层测试线。
10.根据权利要求1所述的LED应用产品自动化生产线,其特征在于,在所述老化测试设备的出口设有将不合格的PCB板取出的分离机构。
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