[发明专利]一种基于FPGA的仪表电机磨合老化测试装置及方法

权利要求书

1.一种基于FPGA的仪表电机磨合老化测试装置，其特征在于该装置由核心控制单元（1）、FPGA配置存储器单元（2）、十个电机驱动单元（3）和十个电机测试接插板（4）、FPGA扩展存储器单元（7）和键盘及显示单元（8）构成；FPGA配置存储器单元（2）、十个电机驱动单元（3）、FPGA扩展存储器单元（7）和键盘及显示单元（8）分别与核心控制单元（1）相连接；电机测试接插板（4）与电机驱动单元（3）相连接；待磨合老化的电机（5）通过插座连接在电机测试接插板（4）上；一个电机驱动单元（3）和一个电机测试接插板（4）组成一个测试分组。

2.根据权利要求1所述的一种基于FPGA的仪表电机磨合老化测试装置，其特征在于核心控制单元（1）由FPGA可编程逻辑器件实现，由NIOS软核CPU（9）和电机运转驱动信号产生电路（10）构成；NIOS软核CPU（9）与电机运转驱动信号产生电路（10）相连接。

3.根据权利要求1所述的一种基于FPGA的仪表电机磨合老化测试装置其特征在于所述电机驱动单元（3）由2组H桥型电机驱动电路构成，每组H桥型电机驱动电路驱动仪表电机的一相线圈绕组。

4.根据权利要求1所述的一种基于FPGA的仪表电机磨合老化测试装置其特征在于所述电机测试接插板（4）采用仪表电机专用插座按照六边形蜂窝状排列；每个电机测试接插板（4）可以插接多个仪表电机；所述多个仪表电机同相线圈绕组以并联形式连接；电机驱动单元（3）与电机测试接插板（4）之间的通过4芯导线连接。

5.一种如权利要求1所述的一种基于FPGA的仪表电机磨合老化测试装置的测试方法，其特征在于所述方法如下：

核心控制单元（1）产生驱动仪表电机转动的驱动信号，经过电机驱动单元（3）对信号进行功率放大后，通过电机测试接插板（4）驱动仪表电机。

6.根据权利要求1所述的一种基于FPGA的仪表电机磨合老化测试装置的测试方法，其特征在于所述核心控制单元（1）由NIOS软核CPU（9）和电机运转驱动信号产生电路（10）构成：NIOS软核CPU（9）根据用户设定的参数控制电机运转驱动信号产生电路（10）产生2路PWM信号和电机转动方向控制信号；FPGA内部设有十个电机运转驱动信号产生电路（10），输出10组电机驱动信号，送给电机驱动单元，实现十个测试分组测试；该十个测试分组可以设定不同的测试参数同时步测试。