[发明专利]一种叶面积指数测定方法及装置

权利要求书

1.一种叶面积指数测定方法，其特征在于，包括以下步骤：

(1)将叶片层置于激光器和光电变送器之间；

(2)系统初始化；

(3)拟合测试：在任意叶片上任意选取若干点作为拟合测试点进行测试，光电变送器将接收到的激光信号转换为电压信号，电压信号经数据采集卡采集至计算机；经若干次测试后，由计算机拟合得到电压值Y和重叠叶片层数X之间的关系函数；

(4)设置参数：设置电压信号上限、光电变送器的接收面积、叶片层的占地面积和最大循环次数；

(5)光电变送器将接收到的激光信号转换为电压信号，电压信号经数据采集卡采集至计算机；

(6)计算机判断采集到的电压信号是否超过电压上限，

若是，进行步骤(7)；

若否，根据测试得到的电压值，利用步骤(3)得到的关系函数计算测试点的重叠叶片层数X；计算测试点叶片面积＝测试点叶片层数×光电变送器的接收面积；

(7)判断是否达到最大循环次数；

若否，激光器与光电变送器同步平动至下一测试点；

若是，则对各测试点叶片面积求和，和值为叶片层的总叶片面积；计算叶面积指数：叶面积指数＝总叶片面积/叶片层的占地面积，完成测定过程。

2.根据权利要求1所述的一种叶面积指数测定方法，其特征在于，步骤(3)所述电压值Y和重叠叶片层数X之间的关系函数具体为：Y＝Aexp(-Bx)，其中A和B为拟合得到的系数，A＞0，B＞0。

3.一种叶面积指数测定装置，其特征在于，包括激光器、光电变送器、数据采集卡和计算机，所述光电变送器与所述激光器通过激光信号连接；所述光电变送器通过数据采集卡与所述计算机连接。

4.根据权利要求3所述的一种叶面积指数测定装置，其特征在于，还包括U型架，所述激光器安装在所述U型架的上侧；所述光电变送器安装在U型架的下侧，位于所述激光器的垂直正下方。

5.根据权利要求3所述的一种叶面积指数测定装置，其特征在于，还包括接线端，所述光电变送器通过所述接线端与计算机连接。

6.根据权利要求3所述的一种叶面积指数测定装置，其特征在于，所述激光器为近红外激光器。

7.根据权利要求6所述的一种叶面积指数测定装置，其特征在于，所述光电变送器包括近红外硅光电池和调理模块，所述近红外硅光电池与所述调理模块连接。

8.根据权利要求7所述的一种叶面积指数测定装置，其特征在于，所述调理模块进一步包括前置放大电路和主放大电路，所述前置放大电路的输出端与所述主放大电路的输入端连接。