[发明专利]回放设备、回放方法和程序

说明书

技术领域

本公开涉及回放设备、回放方法和程序。

背景技术

由于在光学记录介质(光盘)的记录和再现中使用的光学拾取器的物镜的倾斜或者由于光盘的倾斜而发生慧形象差(coma aberration)。为了最小化慧形象差，调整物镜的倾斜和光盘的倾斜等。

例如在日本专利申请公开No.JP-A-2005-209283中公开了校正球面像差(spherical aberration)和慧形象差以获得在多层光记录介质的任何信息记录表面上的期望的斑点特性(spot characteristic)的技术。

发明内容

在这种情况下，利用具有多个信息记录表面的多层光学记录介质，当校正慧形象差时，当一次校正每一层时调整时间显著增加。例如，当光盘具有四层信息记录表面时，执行四次调整，并且与具有一层或两层的光盘相比，调整时间增加。

此外，在日本专利申请公开No.JP-A-2005-209283中不考虑初始的慧形象差。在此，初始的慧形象差是在光学拾取器的制造中产生的由物镜等引起的慧形象差。因此，在日本专利申请公开No.JP-A-2005-209283中，精度在实际使用中是不足的。

考虑到前面所述，期望提供能够在多层光学记录介质中快速调整倾斜和减少慧形象差的新颖的和改进的回放设备、回放方法和程序。

按照本公开的实施例，提供了回放设备，包括：调整部件，其基于光学记录介质的多个数据记录表面之中的第一数据记录表面，调整关于第一数据记录表面的倾斜；调整量测量部件，其从倾斜调整的结果测量第一倾斜调整量；获取部件，其获取回放设备的慧形象差；和计算部件，其基于第一倾斜调整量和慧形象差，计算第二倾斜调整量以调整关于与第一数据记录表面不同的第二数据记录表面的倾斜。

计算部件可以基于第一倾斜调整量、第二倾斜调整量和慧形象差，计算第三倾斜调整量以调整关于与第一数据记录表面和第二数据记录表面不同的第三数据记录表面的倾斜。

获取部件可以通过直接测量回放设备的物镜的慧形象差来获取慧形象差。

当物镜是倾斜的和固定的时，获取部件可以测量其余的慧形象差作为透镜倾斜并获取慧形象差。

计算部件可以基于第二倾斜调整量和慧形象差，计算第三倾斜调整量以调整关于与第一数据记录表面和第二数据记录表面不同的第三数据记录表面的倾斜。

按照本公开的另一实施例，提供了回放方法，包括步骤：基于光学记录介质的多个数据记录表面之中的第一数据记录表面，调整关于第一数据记录表面的倾斜；从倾斜调整的结果测量第一倾斜调整量；获取回放设备的慧形象差；和基于第一倾斜调整量和慧形象差，计算第二倾斜调整量以调整关于第二数据记录表面的倾斜，该第二数据记录表面与第一数据记录表面不同。

按照本公开的另一实施例，提供了程序，包括命令计算机以执行以下步骤的指令：基于光学记录介质的多个数据记录表面之中的第一数据记录表面，调整关于第一数据记录表面的倾斜；从倾斜调整的结果测量第一倾斜调整量；获取回放设备的慧形象差；和基于第一倾斜调整量和慧形象差，计算第二倾斜调整量以调整关于第二数据记录表面的倾斜，该第二数据记录表面与第一数据记录表面不同。

按照上面描述的本公开，可以在多层光学记录介质中快速调整倾斜并且减少慧形象差。

附图说明

图1是示出按照本公开第一实施例的光盘驱动设备的硬件电路块的硬件电路配置的框图；

图2示出按照本实施例的系统控制器的框图；

图3是示出多层光盘的示例的部分截面图；

图4是示出光盘、支撑并旋转光盘的主轴电机和光学拾取器的基本单元的部分侧视图；

图5是示出在可以直接测量的情况下推导出计算倾斜调整量的计算公式的方法的流程图；

图6是在物镜在制造时被倾斜并且附加的情况下推导出计算倾斜调整量的计算公式的方法的流程图；和

图7是示出用于估计关于多层光盘2的多个数据记录表面的倾斜校正量的方法的流程图。

具体实施方式

以下参考附图详细描述本公开的优选实施例。注意，在该说明书和附图中，具有基本上相同功能和结构的结构元件用相同的附图标记表示，并且省略对这些结构元件的重复解释。

注意，将按照以下顺序给出说明。

1.第一实施例

2.第二实施例

3.调整L0层的倾斜优选的原因

1.第一实施例

第一实施例的配置