[发明专利]中温用Ga2Te3基热电半导体及制备方法无效

专利信息
申请号: 201110173071.8 申请日: 2011-06-24
公开(公告)号: CN102234842A 公开(公告)日: 2011-11-09
发明(设计)人: 崔教林 申请(专利权)人: 宁波工程学院
主分类号: C30B29/40 分类号: C30B29/40;C30B1/00;C01B19/04
代理公司: 宁波奥凯专利事务所(普通合伙) 33227 代理人: 白洪长
地址: 315211 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 中温用 ga sub te 热电 半导体 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种中温用Ga2Te3基热电半导体,其特征是该中温用Ga2Te3基热电半导体是选择金属元素Cd作为Ga2Te3热电半导体内部的添加元素,Cd元素在所述Ga2Te3中添加的摩尔分数与Ga2Te3的摩尔分数比为0.1~0.4,所述中温用Ga2Te3基热电半导体的化学式为(Ga2Te3)(CdTe)x,其中x=0.1~0.4。

2.一种中温用Ga2Te3基热电半导体的制备方法,其特征是中温用Ga2Te3基热电半导体是选择金属元素Cd作为Ga2Te3热电半导体内部的添加元素,该热电半导体的化学式为(Ga2Te3)(CdTe)x,该热电半导体是在真空石英管内熔炼合成,将单质元素Ga、Te和Cd置于真空石英管内,合成温度为950~1150℃,合成时间为20~28小时,然后将真空石英管内的(Ga2Te3)(CdTe)x铸锭随炉冷却至700~900℃后立即在水中淬火,将淬火后的(Ga2Te3)(CdTe)x铸锭粉碎、球磨,球磨后的粉末经放电等离子火花烧结制成块体,烧结温度为350~550℃,烧结压力为40~60MPa,烧结后的块体材料在真空石英管内退火2500~3000小时,退火温度为300~400℃。

3.根据权利要求2所述的中温用Ga2Te3基热电半导体的制备方法,其特征是所述(Ga2Te3)(CdTe)x在真空石英管内熔炼的合成温度择优为1100℃,烧结温度择优为450℃,烧结压力择优为50MPa。

4.根据权利要求2所述的中温用Ga2Te3基热电半导体的制备方法,其特征是将所述烧结后的块体材料在真空石英管内退火择优为2880小时,退火温度择优为390℃。

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