[发明专利]基于约束最大化的图像重建有效
申请号: | 201110173472.3 | 申请日: | 2011-06-10 |
公开(公告)号: | CN102364334A | 公开(公告)日: | 2012-02-29 |
发明(设计)人: | R·V·V·L·兰戈于;M·K·K·米塔尔;D·米什拉;S·马哈林加姆 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | G01N27/04 | 分类号: | G01N27/04;A61B5/053 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 柯广华;朱海煜 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 约束 最大化 图像 重建 | ||
1.一种提供包含多个区域的结构(46)的内部的图像的方法, 所述多个区域具有影响电信号通过所述结构的传输的不同电导率或 导纳率,所述方法包括:
提供沿通过所述结构(46)的平面的一系列电极(44),其中所 述电极(44)沿所述结构(46)的外部表面安置;
提供一系列电信号集以用于输入到所述电极(44),每个信号集 包括用于输入到所述电极(44)中的每个的电信号模式;
顺序施加所述电信号集(Vi)中的每个于所述电极(44),每个 信号集的施加产生所述结构(46)内的旋转电场;
响应于每个信号集的施加,从所述电极(44)获得电信号的测量 集;
用所述电信号的测量集计算代表安置所述电极(44)所围绕的所 述结构(46)的区域中的所述结构(46)内部的电导率或导纳率分布; 以及
确定代表包括两个或更多具有不同电导率或导纳率的区域的所 述结构(46)内部的图像数据,其中计算所述电导率或导纳率分布的 过程包括:限定基于所述电导率分布的能量函数和正向模型,所述正 向模型将所述电信号的测量集表达为关于电导率的电压值中的变化 的函数,以及要求所述能量函数和基于所述正向模型的函数之间的差 别的偏导数等于零。
2.如权利要求1所述的方法,其中所述施加的电信号集(Vi)的 序列每个包括电压输入模式并且所述测量的电信号集每个包括测量 的电流水平。
3.如权利要求1所述的方法,其中所述施加的电信号集(Vi)的 序列包括电压输入模式并且所述测量的电信号集包括测量的电流水 平。
4.如权利要求1所述的方法,其中所述结构(46)是具有不同 电导率的物质流过的导管。
5.如权利要求1所述的方法,其中所述结构(46)是具有不同 相的物质流过的导管。
6.如权利要求4所述的方法,其中所述物质包括油(86)和烃 类气体(88)。
7.如权利要求4所述的方法,其中图像信息用于确定流过所述 导管(46)的液体和气体物质的相对比例。
8.如权利要求1所述的方法,其中所述施加的信号集包括λ个 电压激发模式集,每个模式施加于L个电极(44)中的一个,其中L =1-k,并且所述电压模式根据以下来产生
其中Vkλ是在第λ激发模式集中施加于第k电极(44)的时间变化电压 正弦波(82),是参考正弦波的峰值电压,t是时间并且ω是正弦 波的频率。
9.如权利要求8所述的方法,其中所述电信号的测量集包括用 于确定所述电导率分布的测量数据的至少λL个元素。
10.如权利要求1所述的方法,其中:
计算所述电导率或导纳率分布的所述过程包括限定所述能量函 数为对于电导率或导纳率值σj的集的
其中j=1至N,其中N等于用于限定所述电导率或导纳率分布的值σj的总数;
将所述电信号的测量集表达为关于电导率或导纳率的电压值中 的变化的函数的所述正向模型表达为
其中Ui是包括所述电极(44)处测量的所述电信号集中的数据元素的 总数M的矢量,其中i=1,2,3,...M;以及
评估函数F(σj),其中
其中
使得所述能量函数和基于所述正向模型的函数之间的差别的偏导数 等于零,由此确定代表所述结构的内部的一部分的电导率或导纳率分 布。
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