[发明专利]阻止过镀的双层薄膜及其制备方法和应用有效
申请号: | 201110177712.7 | 申请日: | 2011-06-28 |
公开(公告)号: | CN102244145A | 公开(公告)日: | 2011-11-16 |
发明(设计)人: | 周春兰;王文静;李涛;宋洋;李友忠;段野;郜志华 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电工研究所;中轻太阳能电池有限责任公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;C23C28/04 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 关玲 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阻止 双层 薄膜 及其 制备 方法 应用 | ||
1.一种阻止过镀的双层薄膜,其特征在于:所述的双层薄膜中,紧邻硅衬底前表面的一层为氧化硅或氮化硅薄层,在所述的氧化硅或氮化硅薄层上面的一层为含碳的硅氧化合物薄层,所述的含碳的硅氧化合物薄层中碳的原子含量为5-10%。
2.根据权利要求1所述的一种阻止过镀的双层薄膜,其特征在于:所述的含碳的硅氧化合物薄层的折射系数为1.3-1.4。
3.根据权利要求1所述的一种阻止过镀的双层薄膜,其特征在于:所述含碳的硅氧化合物薄层的厚度为20-200nm。
4.制备权利要求1-3任何一项所述阻止过镀的双层薄膜的方法,其特征在于,所述的制备方法包括以下步骤:
步骤1,对硅衬底进行织绒,扩散,去边清洗,然后在清洗后的硅衬底的前表面沉积氧化硅或氮化硅薄层;
步骤2,在所述的氮化硅或氧化硅薄层上喷涂或者旋涂聚硅氧烷基电介质溶液;
步骤3,对喷涂或者旋涂聚硅氧烷基电介质溶液之后的硅衬底在N2或者空气中退火,退火温度400-500℃,时间30-60分钟,形成含碳的硅氧化合物薄膜。
5.根据权利要求4所述的双层薄膜制备方法,其特征在于:在进行所述的步骤3之前对所述硅衬底置于热板上在温度200℃下烘干,烘干时间为30秒。
6.一种硅太阳能电池,其特征在于:所述的硅太阳能电池包括所述的双层薄膜;所述硅太阳能电池从太阳光照射面,即前表面起向下排列顺序依次为:双层薄膜、前电极、n+发射极、p型硅区域、局域背电场p+、背电极。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的