[发明专利]一种SEM-ICP-MS测定单微粒铀同位素比值的方法

权利要求书

1.一种SEM-ICP-MS测定单微粒铀同位素比值的方法，该方法包括以下步骤：(1)铀微粒样品的制备；(2)铀微粒的寻找、鉴别及转移；(3)铀微粒的溶解；(4)铀同位素比值测定，其特征在于，所述的步骤(3)为将带有铀微粒的硅片放入试剂瓶中，加入HNO₃，在电加热板上加热使微粒溶解，再加入去离子水调节酸度；所述的步骤(4)中采用多接收电感耦合等离子体质谱计(MC-ICP-MS)同时接收²³⁵U和²³⁸U信号，进行样品测量。

2.根据权利要求1所述的一种SEM-ICP-MS测定单微粒铀同位素比值的方法，其特征在于，所述的步骤(3)将带有铀微粒的硅片放入PFA试剂瓶，加入250μl 20％(v/v)HNO₃，在电加热板100℃的温度下加热使微粒溶解，再加入2.25ml的去离子水调节酸度至2％。

3.根据权利要求1所述的一种SEM-ICP-MS测定单微粒铀同位素比值的方法，其特征在于，所述的步骤(1)铀微粒样品的制备为将擦拭样品放入塑料瓶后，加入庚烷，超声振荡得到悬浮液，悬浮液滴加在80℃的加热板的碳片上，随后将加热板的温度加热至300℃，保持20分钟，冷却后，将样品碳片放入样品盒中。

4.根据权利要求1所述的一种SEM-ICP-MS测定单微粒铀同位素比值的方法，其特征在于，所述的步骤(2)微粒的转移为用微操作器控制钨针将微粒转移至硅片，每一个硅片放置一个铀微粒。

5.根据权利要求1所述的一种SEM-ICP-MS测定单微粒铀同位素比值的方法，其特征在于，所述的步骤(2)微粒的寻找、鉴别为利用扫描电镜在1000倍的放大倍数下寻找微粒、筛选，随后进行能谱分析，确认含铀微粒。