[发明专利]一种防渗层及其开裂的检测方法有效

专利信息
申请号: 201110182672.5 申请日: 2011-07-01
公开(公告)号: CN102359125A 公开(公告)日: 2012-02-22
发明(设计)人: 韩蔚;韩厚强;俞志敏 申请(专利权)人: 安徽中南环保科技研究所
主分类号: E02D31/02 分类号: E02D31/02;G01M3/02
代理公司: 合肥诚兴知识产权代理有限公司 34109 代理人: 汤茂盛
地址: 230001 安徽省合肥*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 防渗 及其 开裂 检测 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及垃圾填埋处理领域,具体是一种防渗层及其开裂的检测 方法。

背景技术

垃圾填埋时一般需要在垃圾填埋坑中铺设防渗层,从而防止垃圾中 污水渗入地下水中,防渗层是采用薄膜单元铺设形成,相邻薄膜单元之 间通过焊接实现连接,但是焊缝处最易发生开裂,从而发生渗漏,影响 地下水质。在实际运行中,铺设好的防渗层具体哪里有开裂渗漏难以检 修,费时费力,给生产工作带来了不便。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种易于检修的防渗层。

为了实现上述发明目的,本发明所采用的技术方案是:一种防渗层, 包括薄膜单元,薄膜单元之间通过焊接连接,其特征在于:焊缝处布置 有探测层。

按照本发明的处理方法,通过布置探测层,可便于探测装置的探测, 一旦焊缝处发生开裂,其探测层相对位置就会发生变化,这样人们可利 用现代技术或相应设备探测到开裂处的具体位置,并且可靠度、准确度 高,大大缩短了检测时间。

本发明的另一个目的是提供一种防渗层开裂的检测方法。

为了实现上述发明目的,本发明所采用的技术方案是:一种防渗层 开裂的检测方法,包括以下步骤:

①、将薄膜单元进行焊接;

②、然后在焊缝处布置探测层;

③、接着利用定位装置对所述探测层进行标识定位并绘制标识定位 处地图;

④、再利用探测装置对探测层进行探测并得到图像;

⑤、分析所得图像相比地图是否发生变化。

按照本发明的处理方法,当焊缝发生开裂渗漏,其探测层反应到探 测装置上的相应图像也就会发生变化,这样人们通过观察所得图像与地 图比对后的变化便可快速准确地确定开裂处的具体位置,其灵敏度、准 确度高,大大缩短了人们检测开裂处的时间。

附图说明

图1是本发明防渗层结构图;

图2是图1的A-A剖视图。

具体实施方式

一种防渗层,包括薄膜单元10,薄膜单元10之间通过焊接连接, 焊缝20处布置有探测层31。按照本发明的处理方法,通过布置探测层 31,可便于探测装置的探测,一旦焊缝处发生开裂,其探测层31反应 到探测装置上就会发生变化,这样人们可利用现代技术或相应设备探测 到开裂处的具体位置,并且可靠度、准确度高,大大缩短了检测时间。

进一步地,探测层32涂覆在相邻薄膜单元10的焊缝20处的上表 面上,且呈条带状。主要是为了保持探测层维持在焊缝上表面而不发生 损坏或移动,以确认被探测部位是焊缝部位。

所述探测层32宽度为5厘米,焊缝20位于探测层32的居中位置。 这样的宽度比较利于探测。探测层32一般选用便于雷达之类的探测器 探测的涂料。

一种防渗层开裂的检测方法,包括步骤:①、提供薄膜单元并根据 场地现场布置,对相邻薄膜单元的邻边处实施焊接;②、然后在焊缝处 布置一层探测层;③、接着利用定位装置对所述探测层上的部分位置点 进行标识定位并绘制标识定位处地图;④、在探测前,一般会在防渗层 上喷洒一些水,再利用探测装置对探测层进行探测并得到图像;⑤、得 到图像后,分析所得图像相比所述地图是否发生变化。当焊缝发生开裂 渗漏,探测层就会发生变化,其反应到探测装置上的相应图像也就会发 生变化,这样人们通过观察所得图像的变化,通过定位地图便可快速准 确地确定开裂处的具体位置,其灵敏度、准确度高,大大缩短了人们检 测开裂处的时间。

在薄膜单元焊缝处的上表面上涂覆条带状探测层。主要是为了保持 探测层维持在焊缝上表面而不发生损坏或移动,以便于探测。

所述步骤③中标识定位处至少包括薄膜单元间焊缝的十字、T字相 交处的部位。通过定位薄膜单元的焊缝十字、T字相交处的部位,可确 定薄膜单元的相对位置,一旦焊缝处发生开裂,则开裂处图像就发生改 变,与地图比对后便可快速确定具体开裂位置。

所述定位装置为GPS定位装置。GPS定位装置是较为先进定位仪 器,其定位的同时可获得相应定位处的电子地图,为探测比对提供标准。

所述探测装置为便携式雷达探测器。通过雷达探测,得到探测层的 反馈信号,同时得到探测层实时的图像,一旦焊缝开裂,图像就会发生 变化,然后通过定位地图就能快速得到检测结果,便于人眼观察和得出 探测结果。

所述探测层宽度为5厘米,焊缝位于探测层的居中位置。这样的宽 度比较利于探测,为节约探测层用料,这里探测层可以是均匀布置的层 块状。

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