[发明专利]实验室用表面反照率测量系统

权利要求书

1.一种实验室用表面反照率测量系统，其特征在于：所述系统包括光源、引入光纤、样品池、导出光纤和检测器；所述光源与所述引入光纤相连接；所述样品池包括积分球和样品槽，所述样品槽设于所述积分球的开口处且为密封连接；所述积分球的球壁上设有角度调节阀和探测光纤；所述角度调节阀与所述引入光纤相连接；所述探测光纤通过导出接口与所述导出光纤相连接；所述导出光纤的另一端与所述检测器相连接。

2.根据权利要求1所述的反照率测量系统，其特征在于：所述光源为卤钨灯、氖灯或氙灯。

3.根据权利要求1或2所述的反照率测量系统，其特征在于：所述引入光纤、导出光纤和探测光纤的芯径为8μm-1000μm。

4.根据权利要求1-3中任一所述的反照率测量系统，其特征在于：所述积分球与所述样品槽通过密封胶圈密封连接。

5.根据权利要求1-4中任一所述的反照率测量系统，其特征在于：所述样品槽上设有进气口和出气口。

6.根据权利要求1-5中任一所述的反照率测量系统，其特征在于：所述样品槽的下方设有温度控制装置。

7.根据权利要求1-5中任一所述的反照率测量系统，其特征在于：所述样品槽的下方设有腔体，所述腔体上设有进口和出口。

8.根据权利要求1-7中任一所述的反照率测量系统，其特征在于：所述探测光纤上套设有阻光通道。

9.根据权利要求1-8中任一所述的反照率测量系统，其特征在于：所述检测器为光纤光谱仪。