[发明专利]一种提高4H-SiC单晶晶型稳定性的方法有效

专利信息
申请号: 201110186297.1 申请日: 2011-07-05
公开(公告)号: CN102268735A 公开(公告)日: 2011-12-07
发明(设计)人: 徐现刚;彭燕;胡小波;高玉强;宋生;王丽焕;魏汝省 申请(专利权)人: 山东大学
主分类号: C30B29/36 分类号: C30B29/36;C30B23/00
代理公司: 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 代理人: 王绪银
地址: 250100 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 提高 sic 单晶晶型 稳定性 方法
【权利要求书】:

1.一种提高4H-SiC单晶晶型稳定性的方法,使用的生长装置为单晶生长炉,包括生长室、石墨坩埚、保温材料和感应加热系统,生长室侧壁有水冷装置,水冷装置是石英玻璃构成的密封双层管,在双层管中的循环工作介质是水,水温在生长过程中保持恒定;坩埚有固定籽晶的籽晶座;坩埚和保温材料放置在生长室内,生长室可达到1×10-6mbar以上的真空度,温场条件是坩埚内部籽晶处的温度最低,生长方向有较大梯度的温场分布;晶体生长表面的径向等温线的分布近似平行,中心最低,边缘最高,将纯度至少为5N的高纯碳化硅粉料作为源材料盛放在石墨坩埚内,将籽晶固定在籽晶座上,密封后放入生长室,生长前采用真空条件去除氧和水,其特征在于,

生长时通入气体提供晶体生长所需的气氛,压力为5-40mbar,温度为2100~2240℃,源材料升华的气相成分输送到籽晶表面,并在那里成核生长;

精确控制温度,使整个生长过程中温度浮动小于10℃;

精确控制压力,使整个生长过程中压力浮动小于5mbar;

所述籽晶选用4H-SiC碳面籽晶,籽晶偏向(11-20)方向偏角为0~4°;

所述源材料表面温度高于籽晶表面温度20~120℃。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,生长温度在2180-2220℃。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,整个生长过程中温度浮动不大于5℃、压力浮动不大于2mbar。

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述籽晶偏向(11-20)方向偏角为0.5~3.5°。

5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述源材料表面温度高于籽晶表面40~100℃。

6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,保温材料为石墨纤维压制而成。

7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,压力为20mbar,精确控制压力,使整个生长过程中压力浮动小于5mbar;温度为2200℃,精确控制温度,使整个生长过程中温度浮动小于10℃;籽晶选用4H-SiC碳面籽晶,籽晶偏向(11-20)方向偏角为2°,生长速率控制在0.4~0.5mm/h;所述的保温材料为石墨纤维,厚度25mm,杂质含量低于50ppm,所用坩埚为石墨坩埚,侧面保温材料与坩埚侧壁之间的距离为5mm,上层保温材料与石墨坩埚顶部的距离为5mm,源材料表面温度高于籽晶表面温度45℃。

8.如权利要求1所述的方法,其特征在于,压力为40mbar,精确控制压力,使整个生长过程中压力浮动不大于2mbar;温度2180℃,精确控制温度,使整个生长过程中温度浮动不大于5℃;籽晶选用4H-SiC碳面籽晶,籽晶偏向(11-20)方向偏角为3.5°;生长速率控制在0.5~0.6mm/h;所述的保温材料为石墨纤维,厚度25mm,所用坩埚为石墨坩埚,调整上层保温材料与石墨坩埚顶部的距离为5mm,侧面保温材料与坩埚侧壁之间的距离为0mm,料表面中心温度和籽晶中心温度差为53℃。

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