[发明专利]基于探针的磁传感器测试方法及其系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种磁传感器的测试方法及其系统，尤其涉及一种基于探针的磁传感器测试方法及其系统。

背景技术

随着消费类电子功能的日益扩展，传感器的应用逐步普及，并且磁传感器已经成为一些手持类电子产品的标配。

由于磁传感器的特殊性，一般的生产商都采用特制的测试系统进行生产、测试。这样不仅大大提高了磁传感器的成本，而且不利于磁传感器的推广与运用。

目前，为了测试磁传感器，需要制作一个安装磁传感器的测试夹具(socket)。通常的做法是，把三十二个测试夹具做成一块测试板，将该测试板固定在一个转动的平台上，通过伺服电机控制平台转动，从而控制测试板转动到与地球磁场合适的位置，进而实现对磁传感器的信号量的测试。这种测试方法需要控制平台来回转动若干个位置以便找到与地球磁场合适的位置，测试时间比较长，而且测试精度、测试稳定性均受到测试夹具的精度和整个动态系统的影响；另外，每次测试都需要一个个把磁传感器从测试夹具里放入、取出，测试效率低，再加上机器自动装卸的不便，导致需要更多的人工操作，由此人工错误相应更多，严重制约测试的品质。

因此，确有必要提供一种新的磁传感器测试方法及其系统来克服现有技术中的种种缺陷。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是，克服现有磁传感器测试方法及其系统效率低、稳定性差、成本高的缺陷。本发明提供一种基于探针的磁传感器测试方法及其系统，其利用探针实现磁传感器的测试，改变了传统测试需要测试夹具的限制，大大提高测试效率，并有效降低测试成本，有利于磁传感器的大规模生产和应用。

为了解决上述技术问题，本发明所提出的技术方案是：一种基于探针的磁传感器测试方法，其包括以下步骤：

根据待测磁传感器的电路制作包括探针的探针卡，将待测磁传感器放置在测试台上；

在X轴上设置至少一个磁线圈，通过控制所述磁线圈的电流大小和方向，来控制所述测试台X轴上的磁场方向及磁场强度；

根据待测磁传感器的输出，计算出待测磁传感器X轴的偏置输出和/或灵敏度；

通过电机控制所述探针与测试台上待测磁传感器的接触，直至测试台上待测磁传感器全部测试完毕。

进一步的，在不同实施方式中，本发明涉及的基于探针的磁传感器测试方法，还可以应用于测试多轴磁传感器，例如，两轴磁传感器、三轴磁传感器。

进一步的，在一个测试两轴磁传感器的实施方式中，本发明涉及的基于探针的磁传感器测试方法，其包括以下步骤：

根据待测磁传感器的电路制作包括探针的探针卡，将待测磁传感器放置在测试台上；

在X、Y轴上分别设置至少一个磁线圈，通过控制X、Y轴磁线圈的电流大小和方向，来控制所述测试台X、Y轴上的磁场方向及磁场强度；

根据待测磁传感器的输出，计算出待测磁传感器X、Y轴的偏置输出和/或灵敏度；

通过电机控制所述探针与测试台上待测磁传感器的接触，直至测试台上待测磁传感器全部测试完毕。

进一步的，在一个测试三轴磁传感器的实施方式中，本发明涉及的基于探针的磁传感器测试方法，其包括以下步骤：

根据待测磁传感器的电路制作包括探针的探针卡，将待测磁传感器放置在测试台上；

在X、Y、Z轴上分别设置至少一个磁线圈，通过控制X、Y、Z轴磁线圈的电流大小和方向，来控制所述测试台X、Y、Z轴上的磁场方向及磁场强度；

根据待测磁传感器的输出，计算出待测磁传感器X、Y、Z轴的偏置输出和/或灵敏度；

通过电机控制所述探针与测试台上待测磁传感器的接触，直至测试台上待测磁传感器全部测试完毕。

其中，在不同实施方式中，通过控制X、Y或Z轴磁线圈的电流大小和方向来控制所述测试台X、Y或Z轴上的磁场方向及磁场强度的步骤，具体为：

改变通过X轴(或Y轴，或Z轴)磁线圈的电流大小，在待测磁传感器周围产生沿X轴(或Y轴，或Z轴)正方向的预定磁场强度的磁场，此时待测磁传感器的输出为X1(或Y1，或Z1)；

改变通过X轴(或Y轴，或Z轴)磁线圈的电流方向，在待测磁传感器周围产生沿X轴(或Y轴，或Z轴)反方向的磁场；

改变通过X轴(或Y轴，或Z轴)磁线圈的电流大小，在待测磁传感器周围产生沿X轴(或Y轴，或Z轴)反方向的预定磁场强度的磁场，此时待测磁传感器的输出为X2(或Y2，或Z2)。