[发明专利]光感组件检测装置无效
申请号: | 201110188332.3 | 申请日: | 2011-07-04 |
公开(公告)号: | CN102866337A | 公开(公告)日: | 2013-01-09 |
发明(设计)人: | 张旻郁 | 申请(专利权)人: | 昆山洺九机电有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215300 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 组件 检测 装置 | ||
【技术领域】
本发明涉及一种光感组件检测装置,尤指一种可将光源集中聚光照射于光感组件上,达到有效测试光感组件之各项光电特性者。
【背景技术】
一般习用光感组件检测装置,通常由一光感组件,以及一以适当之距离设置于对应光感组件一面上之光源模块所构成;可藉由调整该光感组件与该光源模块间之距离,使该光源模块发出之平行光照射于光感组件上,达到测试光感组件各项光电特性之效果。
虽然上述习用之光感组件检测装置可测试光感组件之各项光电特性,但是由于进行光源照射时,系受限于该光源模块之光照射情形,因此该光源模块于设置时,必须与光感组件间形成较远之距离,才能使该光源模块于照射时具有仿真平行光之效果,故造成设定光源模块之光照射距离过远及光照射位置不易对位等问题。且由于光照射距离过远,会导致光源强度衰减情况严重,大部份光源将无法集中照射于光感组件上,除非大幅提高光源之强度,否则测试工作将难以施行;而且为配合该光源模块之光照射情形及达到模拟平行光之效果,该整套光感组件检测装置与待测之光感组件间须使用相当大的空间,因此,导致测试流程之成本增高。
所以,习用之光感组件检测装置并无法符合实际使用时之所需。
【发明内容】
本发明的目的在于可使一光源透过一第一凸透镜发出一平行光源至一第二凸透镜上,再由该第二凸透镜将该平行光源集中聚光照射于一光感组件上,以达到有效测试一光感组件各项光电特性之效果,其能降低光源功率进行测试,具有节省能源的效果;还可以减少装置的设置空间,具有缩小机台尺寸的功效。
本发明采用的技术方案是:一种光感组件检测装置,包含一光源、一第一凸透镜、一第二凸透镜及一光感组件;其中,第一凸透镜与第二凸透镜平行设置。藉此,可使光源透过第一凸透镜发出平行光源至第二凸透镜上,再由第二凸透镜将光源集中聚光照射于光感组件上,达到有效测试光感组件各项光电特性之效果。
本发明的目的、优点和特点,将通过下面优选实施例的非限制性说明进行图示和解释,这些实施例参照附图仅作为例子给出。
【附图说明】
图1是本发明光感组件检测装置正视图;
图2是本发明光感组件检测装置检测示意图;
图3是本发明光感组件检测装置的组装示意图。
【具体实施方式】
以下结合附图对本发明的具体实施方式给予详细说明。
请参考图1,本发明是一种光感组件检测装置,由一光感组件1、一光源2、一第一凸透镜3及一第二凸透镜4所构成,可使光源2将光源集中聚光照射于光感组件1上,达到有效测试该光感组件1之各项光电特性。
上述所提光感组件1至少包括有一载台11,而光源2至少包括一光源座21。光感组件1为一种具有光感应特性的电子组件,如光敏电阻、光二极管、太阳能电池板等,其载台11为各种为了固定光感组件1的基板、电路板或架体;光源2可以是各种人造光源,如LED光源、灯泡光源或光纤照明光源等,其光源座21为各种固定光源的灯泡座、LED基板,光纤缆线的支架等等。第一凸透镜3设置于光源2相对应的一面,第二凸透镜4与第一凸透镜3平行设置,光感组件1设置于第二凸透镜相对应的一面。第一凸透镜3与第二凸透镜4为双面凸透镜,其二者的放大倍率可以是相同的也可以是不同的,可以依照待测光感组件的尺寸与特性予以调整变更。
请参考图2,为本发明光感组件检测装置检测示意图。光源2的光线由光源点辐射状照射到第一凸透镜3,一般凸透镜的特性是能将平行光线(例如阳光)聚焦到一个点,第一凸透镜3则是利用此原理反向将光源2的点状辐射光线折射成平行光线照射到第二凸透镜4,第二凸透镜4再将朝向第一凸透镜3的一面所接收的平行光线,折射后聚焦到光感组件1,藉此,光源2通过第一凸透镜3发出平行光源至第二凸透镜4上,再由第二凸透镜4将光线集中聚光照射于光感组件1上,如此可以大幅降低光源之强度要求,节省测试所消耗的能量。
请参考图3,为本发明光感组件检测装置的组装示意图。与上述实施例不同的是,光感组件1、光源2可以同时并排或数组多数个,将其分别固定于一下机台12和上机台22,相对应的数个第一凸透镜3、第二凸透镜4也通过一凸透镜支架5予以支撑,如此形成一大面积的测试组装装置,同时将多数个光源2的光线照射进入各个对应的第一凸透镜3,其另面产生的平行光源再藉由对应的第二凸透镜4之特性而转换成聚光之光源,进而使该聚光光源集中照射于个别光感组件1上,藉以有效测试光感组件1之各项光电特性。
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