[发明专利]开关阵列和其制造与操作方法无效

专利信息
申请号: 201110192467.7 申请日: 2011-06-29
公开(公告)号: CN102368684A 公开(公告)日: 2012-03-07
发明(设计)人: C·F·凯梅尔;K·苏布拉马尼安;J·N·帕克;W·J·普雷默拉尼;O·J·S·谢伦斯 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: H03K17/60 分类号: H03K17/60;H03K17/687
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 严志军;谭祐祥
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 开关 阵列 制造 操作方法
【权利要求书】:

1.一种开关阵列(14),其包括:

彼此电联接的多个开关元件(12),每个开关元件(12)构造成在导电状态与非导电状态之间切换;以及

至少一个寄生效应最小化电路(20),其电联接到所述多个开关元件(12)且构造成在所述多个开关元件(12)在导电状态与非导电状态之间切换期间提供跨过和通过所述多个开关元件(12)中的每一个的接近零的电压和电流。

2.根据权利要求1所述的开关阵列(14),其特征在于,所述寄生效应最小化电路(20)包括旁路电路。

3.根据权利要求2所述的开关阵列(14),其特征在于,所述旁路电路从高电阻状态变成低电阻状态且提供低电阻路径(21)以在所述多个开关元件(12)切换之前旁通跨过所述多个开关元件(12)中的每一个的电功率。

4.根据权利要求3所述的开关阵列(14),其特征在于,所述低电阻路径(21)包括至少一个机械的旁路开关(23)。

5.根据权利要求3所述的开关阵列(14),其特征在于,所述低电阻路径(21)包括至少一个半导体装置。

6.根据权利要求3所述的开关阵列(14),其特征在于,所述低电阻路径(21)包括在旁路电路中的两个点之间的差分压降。

7.一种用于使开关阵列(14)中的寄生效应最小化的方法,所述开关阵列(14)包括多个彼此电联接的开关元件(12),每个开关元件(12)构造成在导电状态与非导电状态之间切换,所述方法包括:

将至少一个寄生效应最小化电路(20)电联接到所述多个开关元件(12),所述寄生效应最小化电路(20)构造成在所述多个开关元件(12)在导电状态与非导电状态之间切换期间提供跨过所述多个开关元件(12)中的每一个的接近零的电功率。

8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,将至少一个寄生效应最小化电路(20)电联接到所述多个开关元件(12)包括提供与所述多个开关元件(12)并联的旁路电路。

9.一种用于操作开关阵列(14)的方法,所述开关阵列(14)包括多个开关元件(12)和至少一个寄生效应最小化电路(20),所述多个开关元件(12)电联接以形成处于导电状态或非导电状态的开关阵列(14),所述寄生效应最小化电路(20)电联接到所述多个开关元件(12),所述方法包括:

激活所述寄生效应最小化电路(20);且然后

分别促动所述开关阵列(14)中的所述多个开关元件(12)从导电状态到非导电状态或从非导电状态到导电状态。

10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,激活所述寄生效应最小化电路(20)包括在所述多个开关元件(12)中的对应开关的切换期间提供跨过所述多个开关元件(12)中的每个开关元件(12)的接近零的电功率。

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