[发明专利]微波等离子体提纯冶金级多晶硅的方法无效

专利信息
申请号: 201110192471.3 申请日: 2011-07-05
公开(公告)号: CN102381711A 公开(公告)日: 2012-03-21
发明(设计)人: 谢二庆;王江涛;侯晨光;赵长辉 申请(专利权)人: 兰州大学
主分类号: C01B33/037 分类号: C01B33/037
代理公司: 兰州中科华西专利代理有限公司 62002 代理人: 李艳华
地址: 730000 *** 国省代码: 甘肃;62
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摘要:
搜索关键词: 微波 等离子体 提纯 冶金 多晶 方法
【权利要求书】:

1.微波等离子体提纯冶金级多晶硅的方法,包括以下步骤:

(1)将粒度为250目的冶金级硅粉进行超声清洗后,在室温下晾干,得到预处理硅粉;

(2)将所述预处理硅粉放入微波等离子体提纯装置内的石英管(5)中;

(3)将所述石英管(5)通过机械泵(7)抽真空至真空度为100Pa~350Pa后,通过Ar气进气装置(1)向所述石英管(5)通入纯度为99.995%的Ar气;

(4)20分钟后,打开电源开关,开启微波发射源(4),在Ar气流量为10~20sccm、微波功率为2450MHz、真空度为100~350Pa的条件下进行Ar微波等离子体刻蚀,刻蚀10~30分钟后,得到提纯后的冶金级多晶硅粉体;

(5)刻蚀结束后,关闭所述电源开关及所述Ar气进气装置(1),待所述提纯后的冶金级多晶硅粉体自然冷却后取出,放入清洁无污染的环境中保存即可。

2.如权利要求1所述的微波等离子体提纯冶金级多晶硅的方法,其特征在于:所述步骤(1)中的超声清洗是指依次用丙酮、质量浓度为99.7%的酒精、去离子水分别超声20~40分钟,直至硅粉上清液完全清澈,然后用质量浓度为40%的HF溶液清洗以去除表面的氧化层。

3.如权利要求1所述的微波等离子体提纯冶金级多晶硅的方法,其特征在于:所述步骤(2)中的微波等离子体提纯装置包括壳体(6)及置于所述壳体(6)内的带电源开关的微波发射源(4)和连有转动装置的石英管(5);所述石英管(5)的一侧与所述微波发射源(4)相接,其顶部设有Ar气进气装置(1),其底部通过管道连有机械泵(7);所述Ar气进气装置(1)的进气口设有流量计(2);所述机械泵(7)连有真空计(3)。

4.如权利要求4所述的微波等离子体提纯冶金级多晶硅的方法,其特征在于:所述石英管(5)为高纯石英管。

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