[发明专利]角度检测装置无效

专利信息
申请号: 201110198670.5 申请日: 2011-07-13
公开(公告)号: CN102735159A 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 嘉山长兴;荒井由太郎;上月健次 申请(专利权)人: 东京计装株式会社
主分类号: G01B7/30 分类号: G01B7/30;G01D3/036
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 张靖琳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 角度 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种角度检测装置,在磁通量密度均匀的磁场内配置霍尔元件,通过该霍尔元件来检测角度θ,其特征在于,该角度检测装置具有:第1、第2传感器,沿相对与上述磁通量方向平行的中线以角度±φ倾斜的+φ轴和-φ轴而分别设置的由霍尔元件构成;检测电路,在相对上述磁通量方向上述中线相对倾斜角度θ的情况下,求解上述第1、第2传感器的输出Va、Vb;运算电路,根据该检测电路的输出对tanθ=tanφ·(Va-Vb)/(Va+Vb)进行运算,求解角度θ。

2.根据权利要求1所述的角度检测装置,其特征在于,上述+φ轴、-φ轴为V形槽的两条斜边。

3.根据权利要求1或2所述的角度检测装置,其特征在于,在上述角度θ为微小角的情况下,设

4.根据权利要求1~3中任何一项所述的角度检测装置,其特征在于,在上述中线与上述磁通量方向一致的θ=0的状态,按照上述输出Va、Vb为Va=Vb的方式进行零点调整。

5.根据权利要求1~4中任何一项所述的角度检测装置,其特征在于,在无磁场状态,按照上述输出Va、Vb为Va=Vb=0的方式对输出Va、Vb中包含的偏置电压进行修正。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东京计装株式会社,未经东京计装株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110198670.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top