[发明专利]一种μm级超导丝材低温下光电联合测量系统

权利要求书

1.一种                                                级超导丝材低温下光电联合测量系统，其特征在于，包括去除铜基的级纯超导丝材，以及分别与所述级纯超导丝材配合设置的级超导丝材光学测量装置、及级超导丝材电学测量装置。

2.根据权利要求1所述的级超导丝材低温下光电联合测量系统，其特征在于，所述级超导丝材光学测量装置，包括用于为所述级纯超导丝材提供低温环境的低温箱；可移动式设在级纯超导丝材上、且用于标记级纯超导丝材上任意两点位置的第一吸光靶与第二吸光靶；以及可随所述第一吸光靶与第二吸光靶移动，且用于记录级纯超导丝材任意两点在低温下拉伸时的相对位移、并计算出级纯超导丝材的拉伸应变量的光学探测器；在所述低温箱上，设有用于光学探测器的光束透过的玻璃窗。

3.根据权利要求2所述的级超导丝材低温下光电联合测量系统，其特征在于，所述第一吸光靶与第二吸光靶均为黑色吸光靶。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的级超导丝材低温下光电联合测量系统，其特征在于，所述级超导丝材电学测量装置，包括用于提供低温环境与一对曲面刀口的低温引伸计，以及固定套接在级纯超导丝材两端的一对铜套；所述低温引伸计通过一对曲面刀口，与级纯超导丝材的一对铜套接触。

5.根据权利要求4所述的级超导丝材低温下光电联合测量系统，其特征在于，所述低温引伸计为4.2K低温电阻应变计。