[发明专利]接触式粒度检测方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及矿物处理工艺过程中磨矿、分级作业工序物料粒度的检验领域，特别涉及一种专门检测样品中最大颗粒的接触式粒度检测方法及装置。

背景技术

目前在线检验或离线检验物料粒度所用的激光粒度仪、超声波粒度仪均为检验样品全粒度分布，仪器结构复杂，价格昂贵。

现有技术中，专利号“03208683.0”“载流接触式矿浆粒度检测仪”中公开了一种粒度检测仪，结构稍微简单些，其测量头是由测量马达经传动组件带动的，作用是检验矿浆中的粒度分布，其造价也不低。

在很多场合，如磨矿、分级作业中，不需要知道样品中全部粒度的分布状况，只要连续地知道最大颗粒的状况就可以了。目前专门检测样品中最大颗粒的粒度检测装置，还没见有报道。

发明内容

本发明的目的是提供一种接触式粒度检测方法及装置，克服现有技术的不足，适应矿物分级作业中对粒度检测的需要，专门检测样品中最大颗粒的粒度。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案是：

一种接触式粒度检测方法，在容器底部设有活动检测柱，活动检测柱上部设有位移传感器，向活动检测柱底部注入少量固液混合物样品，活动检测柱降下后会被样品中的固体大颗粒硌住，位移传感器检测到活动检测柱前后位置差即为样品的最大颗粒粒度值，其具体步骤如下：

1)活动检测柱抬起：清水阀打开，向容器内注入清水，储液阀打开，储液囊充水同时活动检测柱抬起；

2)冲洗：关闭储液阀，同时打开高位放液阀和低位放液阀，对活动检测柱底部进样空间进行冲洗，冲洗10-30秒钟；

3)校准：关闭清水阀，打开储液阀，活动检测柱下方的水快速从高位放液阀和低位放液阀中流出，储液囊中的水补入活动检测柱上方壳体空间，活动检测柱落至容器底部，位移传感器检测此时活动检测柱的位置记为“0”；

4)活动检测柱二次抬起：清水阀打开，储液阀打开，同时活动检测柱抬起；

5)进样：关闭清水阀和储液阀，打开样品阀和高位放液阀，向活动检测柱底部进样空间注入样品，注入量为5-15ml；

6)测量计算：打开储液阀和和高位放液阀，储液囊释放清水，活动检测柱在重力和储液囊与高位放液阀之间压力差作用下缓慢下沉，直到活动检测柱位置不再变化，位移传感器检测活动检测柱的位置即为样品的最大颗粒粒度值；

7)重复上述步骤1)——步骤6)，可实现连续测量。

一种接触式粒度检测装置，包括有壳体、活动检测柱、固定检测头和储液囊，在密闭的壳体底部设有进样空间，活动检测柱设在壳体下部，活动检测柱与壳体侧壁构成滑动副，活动检测柱上部设有固定检测头，固定检测头内设有位移传感器，壳体顶部出口依次与储液阀和储液囊相连，进样空间一侧设有样品阀，进样空间另一侧设有高位放液阀和低位放液阀，样品阀侧还设有清水阀。

所述位移传感器为涡流位移传感器或激光位移传感器。

高位放液阀和低位放液阀设置高度差为15mm-40mm。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：1)适应矿物分级作业中对粒度检测的需要，专门检测样品中最大颗粒的粒度。2)结构简单，成本低。3)适用于浓度低于60％的固液混合物，粒度检测范围为0.02mm-3mm。

附图说明

图1是本发明实施例结构示意图。

图中：1-清水阀  2-样品阀  3-壳体  4-活动检测柱  5-储液囊  6-储液阀  7-固定检测头  8-高位放液阀  9-低位放液阀  10-进样空间

具体实施方式

下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步说明：

见图1，是本发明一种接触式粒度检测装置实施例结构示意图，包括有壳体3、活动检测柱4、固定检测头7和储液囊5，在密闭的壳体3底部设有进样空间10，活动检测柱4设在壳体3下部，活动检测柱4与壳体3侧壁构成滑动副，活动检测柱4上部设有固定检测头7，固定检测头7内设有位移传感器，位移传感器为涡流位移传感器或激光位移传感器。壳体3顶部出口依次与储液阀6和储液囊5相连，储液囊5的作用是储存和释放活动检测柱4上方的液体；进样空间10一侧设有样品阀2，进样空间10另一侧设有高位放液阀8和低位放液阀9，高位放液阀8和低位放液阀9设置高度差为15mm-40mm，样品阀侧进样空间10底部设有清水阀1，储液阀6与其它阀门配合可使活动检测柱4在壳体3内起落浮动。