[发明专利]恒温老化装置

说明书

【技术领域】

本发明涉及一种恒温老化装置，特别是涉及一种待测物品受热均匀的恒温老化装置。

【背景技术】

随着科技的发展进步，电子产品越来越广泛的应用于家庭和办公场合。而一些电子产品(如笔记本电脑)在出厂前需要经过老化测试，老化测试的目的是使产品的缺陷在出厂前暴露出来，如焊点连接的可靠性，产品在设计、材料和工艺等方面的各种缺陷，以便提高产品的稳定性，在出厂前发现一些缺陷并进行弥补，减少产品的返修率。

目前的恒温老化装置，包括恒老化架，待测物品放入老化架中，老化架内设有灯泡，通过打开所述灯泡加热使得所述老化架内达到预设温度(例如40℃)，所述老化架内还设有温控探头，当所述老化架内的温度超过预设温度后，控制所述灯泡关闭，使得所述老化架内自然降温，或者所述老化架一侧还可以包括风扇，于此同时启动风扇加速降温。

然而，采用以上恒温老化装置，由于采用灯泡对老化架内直接加热，一方面会造成靠近灯泡的待测物品被烤坏的情形；另一方面会导致老化架内温度不均，使得放置在老化架内的各待测物品的环境会存在差异，温控探头只探测到某个点的温度，进而判断进行加热或者降温也不准确，因此会造成测试结果不准确。

PTC(positive temperature coefficient)为正温度系数热敏材料，它具有电阻率随温度升高而增大的特性。PTC材料的理论日趋成熟，应用范围也不断扩大。

有鉴于此，实有必要开发一种恒温老化装置，以解决上述问题。

【发明内容】

因此，本发明的目的在于提供一种恒温老化装置，可以提供较为准确的测试环境，且待测物品受热均匀，避免烤坏。

为了达到上述目的，本发明提供的恒温老化装置，包括：

老化架，其一侧设有开门，所述开门关闭状态，所述老化架内形成封闭空间，所述老化架的一面上设有开口，所述开口在所述老化架的外壁上的两侧凸设有滑槽，所述滑槽内插设有插板，所述插板遮覆所述开口；

温控探头，其设于所述老化架内，检测所述老化架内的环境温度；

继电器，其与所述温控探头连接，获取所述温控探头检测到的环境温度，并与一预设温度比较；

电磁阀，其与所述继电器连接，受控于所述继电器；

汽缸，其与所述电磁阀连接，所述汽缸具有一伸缩杆，所述伸缩杆的一端连接于所述老化架的插板的一端，所述汽缸受控于所述电磁阀；

PTC加热器，其设于所述老化架内靠近底部位置，并与所述继电器连接，当所述继电器判断所述老化架内的环境温度小于所述预设温度时，所述PTC加热器启动加热。

可选的，所述继电器判断所述老化架内的环境温度大于所述预设温度时，所述电磁阀控制所述汽缸的伸缩杆收缩，所述插板从所述滑槽内滑出，所述继电器判断所述老化架内的环境温度小于所述预设温度时，所述电磁阀控制所述汽缸的伸缩杆伸长，所述插板插入所述滑槽。

可选的，所述老化架内设有若干个隔板，所述隔板上用以承载待测物品。

可选的，所述开口设于所述老化架顶部。

可选的，所述恒温老化装置还包括风扇，其设于所述老化架底部，并于所述PTC加热器的下方。

可选的，所述老化架内部后方还设有一散热腔，所述PTC加热器及所述风扇设于所述散热腔内。

相较于现有技术，利用本发明的恒温老化装置，由于采用PTC加热器进行加热，可以提供较为准确的测试环境。同时，由于采用风扇进行均温以及设置散热腔，可以达到增强上述均温的效果。从而亦可以使得待测物品受热均匀，避免烤坏。

【附图说明】

图1绘示为本发明的恒温老化装置一较佳实施例的第一状态结构示意图。

图2绘示为图1的局部放大结构示意图。

图3绘示为图2的第二状态示意图。

图4绘示为图1中开门隐藏后的结构示意图。

【具体实施方式】

请共同参阅图1、图2、图3、图4，图1绘示为本发明的恒温老化装置一较佳实施例的第一状态结构示意图、图2绘示为图1的局部放大结构示意图、图3绘示为图2的第二状态示意图、图4绘示为图1中开门隐藏后的结构示意图。需要说明的是，各示意图中并未显示各元件间的线路连接。

为了达到上述目的，本发明提供的恒温老化装置，于本实施例，包括：