[发明专利]一种GO法中两状态系统内子系统部件的重要度确定方法有效

专利信息
申请号: 201110199496.6 申请日: 2011-07-15
公开(公告)号: CN102880779A 公开(公告)日: 2013-01-16
发明(设计)人: 王任泽;张建岗 申请(专利权)人: 中国辐射防护研究院
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 代理人: 田明;任晓航
地址: 030006 *** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: 一种 go 法中两 状态 系统 内子 部件 重要 确定 方法
【权利要求书】:

1.一种GO法中两状态系统内子系统部件的重要度确定方法,包括FV重要度与RAW重要度的计算,具体如下:

计算对象子系统中的部件在系统中的FV重要度,包括以下步骤:

(1)计算对象子系统I的部件i在对象子系统I中的FV重要度公式为:

FVIi=P(ΣMCSImi)P(ΦI);]]>

其中,FV的上标标识该重要度属于部件还是子系统;下标标识该重要度的计算是在子系统还是系统;表示对象子系统I中含有部件i的第m个最小割集;表示在对象子系统I中包含单元i的全部最小割集的并集的发生概率;P(ΦI)为对象子系统I的无效度即不可靠度;ΦI表示对象子系统I的结构函数;

(2)计算对象子系统I在系统sys中的FV重要度公式为:

FVsysI=P(ΣMCSsys0MI)P(Φsys)=P(Σ(I,MRCSsysMI))P(Φsys)=P(I,ΣMRCSsysMI)P(Φsys)]]>

=P(I)×P(ΣMRCSsysMI)P(Φsys)=P(ΦI)×P(ΣMRCSsysMI)P(Φsys);]]>

其中,表示系统含有对象子系统I的第M个最小割集;表示对象子系统I的第M个最小余割集,表示包含对象子系统I的全部最小割集的并集的发生概率;P(I)=P(ΦI),表示对象子系统I的无效度;Φsys表示系统的结构函数;

(3)计算对象子系统I中的部件i在系统sys的FV重要度公式为:

FVsysi=FVIi×FVsysI;]]>

计算子系统中的部件在系统的RAW重要度,包括以下步骤:

1)计算对象子系统I的部件i在对象子系统I中的RAW重要度公示为:

RAWIi=P(ΦI|i is fault)P(ΦI);]]>

其中,P(ΦI|iis fault)表示对象子系统I中单元i失效后对象子系统I的无效度;P(ΦI)为对象子系统I的无效度;

2)计算对象子系统I在系统sys中的FV重要度公式为:

FVsysI=P(ΣMCSsys0MI)P(Φsys)=P(Σ(I,MRCSsysMI))P(Φsys)=P(I,ΣMRCSsysMI)P(Φsys)]]>

=P(I)×P(ΣMRCSsysMI)P(Φsys)=P(ΦI)×P(ΣMRCSsysMI)P(Φsys);]]>

其中,表示系统含有对象子系统I的第M个最小割集;表示对象子系统I的第M个最小余割集,表示包含对象子系统I的全部最小割集的并集的发生概率;Φsys表示系统的结构函数;P(I)=P(ΦI),表示对象子系统I的无效度;

3)计算对象子系统I中的部件i在系统sys的RAW重要度公式为:

RAWsysi=(RAWIi-1)×FVsysI+1;]]>

其中,RAW的上标标识该重要度属于部件还是子系统;下标标识该重要度的计算是在子系统还是系统。

2.如权利要求1所述的重要度确定方法,其特征在于:所述的系统是指稳态可靠性分析的可修系统。

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