[发明专利]一种激光烧结制备晶体硅电池背电极的方法无效

专利信息
申请号: 201110202723.6 申请日: 2011-07-11
公开(公告)号: CN102881572A 公开(公告)日: 2013-01-16
发明(设计)人: 刘莹 申请(专利权)人: 刘莹
主分类号: H01L21/268 分类号: H01L21/268;H01L31/18
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 214213 江苏省宜兴*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 激光 烧结 制备 晶体 电池 电极 方法
【权利要求书】:

1.一种激光烧结制备晶体硅电池背电极的方法,主要包括镀铝膜及激光烧结工序,其特征在于:

所述镀铝膜为真空镀膜,用以形成与晶体硅表面附着力良好的铝电极;

所述激光烧结为在真空条件下,用激光对附着铝电极的晶硅面进行烧结,以形成背表面电场;

所述晶体硅在激光烧结时具有本底温度,以加快烧结过程;

2.根据权利要求1所述的一种激光烧结制备晶体硅电池背电极的方法,其特征在于所述真空镀膜为蒸发镀膜和溅射镀膜。

3.根据权利要求1及权利要求2所述的一种激光烧结制备晶体硅电池背电极

的方法,其特征在于当真空镀膜采用溅射镀膜时,其膜厚控制在0.5-1.0μ之间。

4.根据权利要求1所述的一种激光烧结制备晶体硅电池背电极的方法,其特征在于当真空镀膜采用蒸发镀膜时,其膜厚控制在1.0-2.0μ之间。

5.根据权利要求1所述的一种激光烧结制备晶体硅电池背电极的方法,其特征在于激光烧结采用连续式激光器。

6.根据权利要求1所述的一种激光烧结制备晶体硅电池背电极的方法,其特征在于激光烧结的本底真空度范围为10-10-3pa。

7.根据权利要求1及权利要求6所述的一种激光烧结制备晶体硅电池背电极的方法,其特征在于激光烧结时本底温度为0-500℃。

8.根据权利要求1、权利要求6及权利要求7所述的一种激光烧结制备晶体硅电池背电极的方法,其特征在于激光烧结温度在800-1000℃。

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