[发明专利]对中子伽马密度测量的校正

权利要求书

1.一种方法，包括：

使用井下工具的中子生成器来发射中子到地层中，使得所述中子中的一些由所述地层非弹性散射并且生成非弹性伽马射线；

使用所述井下工具的中子探测器来探测返回到所述井下工具的中子计数率；

使用所述井下工具的伽马射线探测器来探测非弹性伽马射线计数率；

确定所述地层是否具有在无附加校正时预期会使得所述中子计数率导致中子伽马密度确定不精确的特性，其中，当所述地层不具有所述特性时，不施加所述附加校正；

当所述地层具有所述特性时，通过向所述中子计数率、所述非弹性伽马射线计数率、或所述中子输运校正函数、或其组合施加校正来施加所述附加校正，并且至少部分地基于所校正的中子计数率、所校正的非弹性伽马射线计数率、或所校正的中子输运校正函数、或其组合来确定所述地层的密度；以及

当所述地层不具有所述特性时，至少部分地基于所探测的中子计数率、所探测的非弹性伽马射线计数率、或所述中子输运校正函数、或其组合来确定所述地层的密度。

2.如权利要求1所述的方法，其中，所述特性包括比预定值低的孔隙度。

3.如权利要求1所述的方法，其中，所述特性包括使得在将所述中子计数率施加于所述中子输运校正函数中时，所述中子计数率不精确地对应于所述地层的快中子输运的重元素浓度。

4.如权利要求1所述的方法，其中，至少部分地基于所述中子输运校正函数来确定所述地层的所述密度，其中，所述中子输运校正函数是所述中子计数率的函数，所述中子计数率精确地对应于不具有所述特性的至少一些地层的快中子输运。

5.如权利要求1所述的方法，其中，至少部分地基于所述非弹性伽马射线计数率的函数减去通过所述中子输运校正函数和校准函数获得的值来确定所述地层的所述密度，其中，所述校准函数解释所述中子生成器的中子输出。

6.如权利要求1所述的方法，其中，至少部分地基于以下关系来确定所述地层的所述密度：

log(CRγinel)-f(CRneutron)-log(Ccal·NS)c1=ρelectron,]]>

其中，ρ_electron表示所述地层的所述密度，表示所述非弹性伽马射线计数率，CR_neutron表示所述中子计数率，f(CR_neutron)表示所述中子输运校正函数，C_cal表示校准常数，N_s表示所述中子生成器的输出，以及c₁表示实验上或通过核建模或通过其组合获得的系数。