[发明专利]一种基于相邻单元双故障的产品测试方法有效
申请号: | 201110205818.3 | 申请日: | 2011-07-22 |
公开(公告)号: | CN102306238A | 公开(公告)日: | 2012-01-04 |
发明(设计)人: | 石君友;李海伟;王璐 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G06F19/00 | 分类号: | G06F19/00 |
代理公司: | 北京永创新实专利事务所 11121 | 代理人: | 赵文利 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 相邻 单元 故障 产品 测试 方法 | ||
技术领域
本发明方法涉及一种基于相邻单元双故障的产品测试方法,属于测试性技术领域。
背景技术
相关性理论是目前广泛应用于测试性设计领域的重要方法。相关性理论基于单故障假设,在系统的相关性图示模型的基础上建立系统故障单元与测试的相关性模型,通过相关性推理,优选出测试序列,得到优化的诊断策略。通过该理论方法可以快速高效地制定诊断策略,实现对系统故障的快速诊断。
在工程实际中,系统往往有多个故障发生,诊断起来相对复杂,原有成熟的基于单故障假设的诊断方法并不适用多故障领域。系统实际工作时经常伴有两个相邻单元同时发生故障的情况,即相邻单元双故障。目前,针对相邻单元双故障的多故障模式还没有有效的诊断能力评估与诊断策略建立方法。
发明内容
本发明方法的目的是为了解决上述问题,提出了一种基于相邻单元双故障的产品测试方法,在相关性图示模型和系统相关性矩阵基础上,采用相邻单元双故障识别出系统全部的相邻单元双故障集合,根据相邻单元双故障集合和系统相关性矩阵获取相邻单元双故障相关性矩阵,依据建立的相邻单元双故障相关性矩阵评估系统的诊断能力,优选出故障检测与隔离用测试,并建立相邻单元双故障的检测与隔离诊断策略,然后应用诊断策略,进行产品测试。
本发明是一种基于相邻单元双故障的产品测试方法,包括以下具体步骤:
步骤一:根据系统的相关性模型,建立系统的相邻单元双故障集合;
步骤二:建立系统的相邻单元双故障相关性矩阵并进行简化,得到简化矩阵;
步骤三:评估系统的相邻单元双故障诊断能力;
步骤四:优选故障检测用测试,建立相邻单元双故障的检测策略;
步骤五:优选故障隔离用测试,建立相邻单元双故障的隔离策略;
步骤六:进行产品测试。
本发明的优点在于:
(1)本发明在系统的相关性模型基础上,将单故障的系统故障诊断理论扩展到相邻单元双故障的多故障模式中,通过建立相邻单元双故障,给出系统相邻单元双故障的识别方法,建立了系统相邻单元双故障相关性矩阵;
(2)本发明给出了系统相邻单元双故障的评估模型,能够在优选相邻单元双故障测试的基础上快速制定系统相邻单元双故障的诊断策略;
(3)本发明填补了系统多故障模式中相邻单元双故障的诊断能力评估与诊断策略建立方法的空白。
附图说明
图1本发明方法的流程;
图2本发明实施例建立系统的相邻单元双故障相关性矩阵的流程;
图3本发明实施例优选相邻单元双故障检测用测试的流程;
图4本发明实施例优选相邻单元双故障隔离用测试的流程;
图5本发明实施例某汽车检测装置的相关性图示模型。
具体实施方式
下面将结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。
本发明的前提为:已知系统(产品)的相关性图示模型和基于单故障假设的系统相关性矩阵,此外,本发明不考虑可靠性和测试费用对优选测试及制定诊断策略的影响。
本发明是一种基于相邻单元双故障的产品测试方法,流程如图1所示,包括以下几个具体步骤:
步骤一:根据系统的相关性模型,建立系统的相邻单元双故障集合;
系统的相邻单元双故障集合为:
CF={cfr|r=1~t} (1)
式中,CF表示系统的相邻单元双故障集合;cfr表示第r组相邻单元双故障,相邻单元双故障是一组相邻单元同时发生故障的情况,一组相邻单元双故障对应于一组相邻单元cf,cf=(fg,fh),其中fg、fh表示任意两个相邻的故障单元,如果fg,fh∈F,F表示系统的故障单元集,且fg和fh的输入输出分别是当满足或时,称cf为一组相邻单元;t表示相邻单元双故障的总数。
其中,相邻单元双故障所属系统仅考虑两种状态:①正常状态,系统组成单元全部正常,无故障;②故障状态,系统有且只有一组相邻单元同时发生故障。
建立系统的相邻单元双故障集合的具体步骤如下:
(1)根据系统的相关性图示模型,找到一条带箭头的有向线段;
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