[发明专利]用于分离在光学设备的光路中的检测信号的方法在审
申请号: | 201110206288.4 | 申请日: | 2011-07-22 |
公开(公告)号: | CN102374981A | 公开(公告)日: | 2012-03-14 |
发明(设计)人: | F.施赖贝尔 | 申请(专利权)人: | 莱卡微系统CMS有限责任公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 胡莉莉;卢江 |
地址: | 德国韦*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 分离 光学 设备 中的 检测 信号 方法 | ||
1.一种用于分离在光学设备的光路中的检测信号的方法,其中不同的信号按所限定的时间顺序形成,其特征在于,基于已知的或者能够测定的/能够确定的时间顺序对信号进行抑制或者分隔。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,检测信号是由荧光和反射光/杂散光得到的信号。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其中利用脉动的激励光激励适于发射荧光的样品,其中荧光从样品中被发射并且反射光在样品上和在光学系统上或在光学系统中被散射,并且其中不仅荧光信号而且反射信号都以相对于激励光的脉冲在时间上被限定的序列来形成,其特征在于,分离基于信号的时间序列、即通过时间分隔来进行。
4.根据权利要求1至3之一所述的方法,其特征在于,荧光信号用于测量,例如用于在荧光关联光谱学(FKS)或者荧光使用寿命显微镜学(FLIM技术)的范围中进行测量,或者荧光信号被用于进行成像,尤其是在优选的共焦的荧光显微镜的情况下被用于进行成像。
5.根据权利要求1至4之一所述的方法,其中荧光和反射光射到检测器上,并且由撞击到那的光子得到的电信号在连接在下游的积分器中被积分或被合计并且与像点相关,其特征在于,在检测器和积分器之间滤出反射信号,其中滤出通过门电路进行,门电路的运行优选地与激励光的脉冲同步。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,直接在激光驱动器上被截取的同步信号或者通过检测器、优选地通过快速光电二极管在激励光测定的同步信号用于同步。
7.根据权利要求5或6所述的方法,其特征在于,门控信号在时间上被校准到荧光信号上。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,门控信号的校准通过适配激光器(光电二极管)与门电路(分向滤波器)之间的线缆长度来进行。
9.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,门控信号通过同步信号的优选地可变的电子延迟来校准。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,同步信号的电子延迟借助软件来校准。
11.根据权利要求6至10之一所述的方法,其特征在于,提供至少两个同步信号,以便供给带有不同的检测光的至少两个检测器。
12.根据权利要求1至11之一所述的方法,其特征在于,交替脉动的光源被用作光源。
13.根据权利要求1至12之一所述的方法,其特征在于,激光光源、尤其是白光激光器被用作光源。
14.根据权利要求1至13之一所述的方法,其特征在于,利用多个被限定的激光线顺序地或者同时地来激励。
15.根据权利要求1至14之一所述的方法,其特征在于,光子计数检测器和/或光电倍增器被用作检测器。
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