[发明专利]液晶活性单体及液晶面板

说明书

技术领域

本发明涉及一种液晶活性单体及液晶面板，特别是涉及一种加入了氟基团的液晶活性单体及具有此液晶活性单体的液晶面板。

背景技术

传统的液晶面板制造过程的液晶注入方式，是以毛细原理将液晶慢慢注入已组合的两玻璃基板之间，这种方法缺点是非常耗时且浪费液晶材料。

前述的液晶注入方式已逐渐由一种滴下式注入(One Drop Filling，ODF)技术所取代。所述滴下式注入技术是先将液晶通过液晶滴下装置直接滴在一玻璃基板上，然后才将其与另一玻璃进行对组。这种新的技术可以大幅节省注入液晶的时间与液晶材料。

然而，制作某些针对液晶配向以改善视角的液晶面板时，通过所述滴下式注入技术使液晶滴下到基板上的配向膜(alignment film)时，配向膜受到液晶滴的冲击的影响往往会导致成品的滴下图形显示不均现象(drop mura defect)的发生。

更详细来说，请参照图1A所示，其揭示现有ODF技术中在透明基板的配向膜上滴上液晶组成物的示意图。请参照图1B和图1C，其揭示液晶组成物中液晶活性单体沉积在配向膜之上的示意图，其中滴下图形显示不均匀现象是由于不同分量的液晶活性单体(reactive monomer，RM)沉积在透明基板上的配向膜的聚酰亚胺(polyimide，PI)表面造成的。

现有ODF技术中所使用的液晶活性单体(RM)，其分子式如下：

当改变液晶的晶穴间隙(cell gap)并使之小于3.8微米(μm)时，会造成现有液晶活性单体难以在配向膜的聚酰亚胺表面大面积的扩散分布开来，从而导致不同分量的液晶活性单体(RM)不均匀的沉积在配向膜(PI)表面(如图1所示)。因此，当液晶的晶穴间隙小于3.8μm时，液晶面板会产生滴下图形显示不均匀现象。

请参照表1所示，表1是对现有液晶活性单体(RM)在各种液晶的晶穴间隙条件下进行的滴下图形显示不均匀现象(Drop mura)的考察结果。从表1可以很明显的看出，当晶穴间隙小于3.8μm时会产生下图形显示不均匀现象(Drop mura)。

表1

  晶穴间隙 活性单体  滴下图形显示不均匀现象  3.8μm 分子式(I)  少  3.5μm 分子式(I)  多  3.3μm 分子式(I)  多  3.0μm 分子式(I)  多

更详细来说，造成上述图形显示不均匀现象的原因在于液晶活性单体(RM)与配向膜(PI)之间的相互作用力(interaction)过大，因此不利于使包含液晶活性单体(RM)的液晶组成物均匀的扩散分布于配向膜的聚酰亚胺(PI)表面。

故，有必要提供一种具有修饰基团的液晶活性单体(RM)，以解决现有技术所存在的问题。

发明内容